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便攜式紅外熱像檢測儀質譜分析儀
HS-FT320便攜式熱像檢測儀利用紅外熱成像技術，對被檢測物體的熱紅外輻射探測，并加以信號處理、光電轉換等手段，將標的物的溫度分布的圖像轉換成可視圖像的檢測設...
型號： HS-FT320 所在地：北京市參考價： ￥120000 更新時間：2023/7/25 9:28:15 對比

紅外檢測儀紅外成像儀熱成像儀光伏組件紅外監(jiān)控儀光伏電站運維設備
HS-phys-SimPLe半導體晶片內部缺陷檢測系統(tǒng)
HS-phys-SimPLe半導體晶片內部缺陷檢測系統(tǒng)產品介紹HS-phys-SimPLe半導體晶片內部缺陷檢測系統(tǒng)是專門用于包括單晶硅、碳化硅、藍寶石等半導體...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/2/27 8:28:25 對比
HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測系統(tǒng)
HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測系統(tǒng)產品介紹HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測系統(tǒng)專門用于包括硅材料等半導體晶圓及晶環(huán)生產過程中發(fā)現(xiàn)晶圓內部的機械隱裂等肉...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/2/27 8:26:38 對比
HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀
HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀產品介紹HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀是專門用于硅芯硅棒生產中的硅棒硅芯內部的的裂縫、雜質...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/2/27 8:24:41 對比
便攜式EL檢測儀太陽能電池板
便攜式EL檢測儀用于檢測光伏電池組件的隱裂、碎片、虛焊、黑片、斷柵及混檔等各類缺陷。光伏電池的內部缺陷嚴重影響光伏電池板的使用壽命和*發(fā)電效率，甚至會引起現(xiàn)場火...
型號： HS-CT 所在地：北京市參考價： ￥150000 更新時間：2022/10/15 9:34:16 對比

EL檢測儀光伏EL檢測系統(tǒng)組件EL檢測系統(tǒng)便攜式EL檢測儀器光伏電站運維監(jiān)控設備
直拉硅單晶完整制備工藝光盤資料
工藝介紹（光盤資料）：CZ硅單晶是一項系統(tǒng)工程，不僅需要對拉晶本身的設備衛(wèi)檢、冷檢、熔料、穩(wěn)定、引晶、放肩、等徑、收尾、冷卻過程工藝要全面把握，而且也離不開對硅...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/8/22 15:38:48 對比
硅材料紅外探傷儀
主要探測指標：裂縫，黑點，夾雜(通常為SiC)，隱裂，微晶
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2022/8/3 13:42:16 對比

硅材料檢測多晶硅檢測紅外探測
籽晶圓籽晶/方籽晶/錐形籽晶（直拉單晶）
產品介紹：選材好，均從整根單晶中取材，取自單晶中部的無位錯、無損傷、無應力部分，取材部位與尾部有足夠距離，且沒有切割損傷
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/8/3 11:30:27 對比
Monocrystal高品質藍寶石籽晶
產品介紹：藍寶石具有高聲速、耐高溫、抗腐蝕、高硬度、高透光性等特點，廣泛應用在醫(yī)療、環(huán)保、化工、高真空測試、LED等等領域
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/8/3 11:30:27 對比
碳化硅籽晶
產品介紹：SiC的物理和電學屬性使其成為短波長光電、高溫、耐輻射、高功率/高頻率電子器件的半導體材料
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/8/3 11:30:27 對比
方坩堝噴涂用氮化硅
■氮化硅分子式為Ｓi3Ｎ4，是一種重要的結構陶瓷材料
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/8/3 11:30:27 對比
拉單晶專用鎵摻雜劑
拉單晶專用鎵摻雜劑■鎵摻雜是目前太陽能拉單晶生產的工藝■拉晶摻鎵硅片大幅度降低光致衰減,同時可以提高太陽能電池光電轉換效率■即使摻鎵單晶電阻率低達0.3Ω*cm...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/8/3 11:30:27 對比
直拉單晶，多晶鑄錠摻雜用高純度母合金
母合金摻雜劑■摻雜，又稱配料，摻雜的目的主要是用來改變硅熔體中施主雜質（如磷）或受主雜質（如硼）的雜質濃度，使其生長出的單晶電阻率達到規(guī)定的要求
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/8/3 11:30:27 對比
拉單晶專用鎵摻雜劑（Ga Dopant）
■鎵為IIIA族元素，原子量為69.72，英文名稱為Gallium,簡稱Ga
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/8/3 11:30:27 對比
直拉單晶區(qū)融用籽晶
籽晶是生長單晶的種子，也叫晶種
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/8/3 11:30:27 對比
SIC涂層MOCVD外延片石墨托盤
SIC涂層MOCVD外延片石墨托盤我公司擁有多名日本專家、博士工程師及*經營管理團隊，擁有專業(yè)從事碳化硅涂層以及對石墨產品進行高溫純化除雜技術
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/8/3 11:30:27 對比
PHY-E280A光伏電池片組件缺陷EL檢測測試系統(tǒng)
PHYS-E280A型電池片EL檢測儀是專門用于電池片生產中清晰、準確、快速地檢測出太陽能電池片的各種缺陷，包括裂片、微隱裂、黑心片、斷柵、印刷不良、破洞、短路...
型號： PHY-E280A 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2022/8/2 16:38:28 對比

電池片檢測 EL檢測電池片缺陷檢測隱裂黑心片檢測斷柵污染檢測
CZ直拉硅單晶配料工藝軟件
問題背景:：■30公斤
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/7/12 14:52:11 對比
多晶硅鑄錠（定向凝固）配料工藝軟件
問題背景：■30公斤
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/7/12 14:52:11 對比
拉單晶鎵摻雜工藝軟件
軟件背景介紹:■鎵摻雜是目前太陽能拉單晶生產的工藝
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/7/12 14:52:11 對比

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