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便攜式紅外熱像檢測(cè)儀質(zhì)譜分析儀
HS-FT320便攜式熱像檢測(cè)儀利用紅外熱成像技術(shù)，對(duì)被檢測(cè)物體的熱紅外輻射探測(cè)，并加以信號(hào)處理、光電轉(zhuǎn)換等手段，將標(biāo)的物的溫度分布的圖像轉(zhuǎn)換成可視圖像的檢測(cè)設(shè)...
型號(hào)： HS-FT320 所在地：北京市參考價(jià)： ￥120000 更新時(shí)間：2023/7/25 9:28:15 對(duì)比

紅外檢測(cè)儀紅外成像儀熱成像儀光伏組件紅外監(jiān)控儀光伏電站運(yùn)維設(shè)備
便攜式EL檢測(cè)儀太陽(yáng)能電池板
便攜式EL檢測(cè)儀用于檢測(cè)光伏電池組件的隱裂、碎片、虛焊、黑片、斷柵及混檔等各類缺陷。光伏電池的內(nèi)部缺陷嚴(yán)重影響光伏電池板的使用壽命和*發(fā)電效率，甚至?xí)瓞F(xiàn)場(chǎng)火...
型號(hào)： HS-CT 所在地：北京市參考價(jià)： ￥150000 更新時(shí)間：2022/10/15 9:34:16 對(duì)比

EL檢測(cè)儀光伏EL檢測(cè)系統(tǒng)組件EL檢測(cè)系統(tǒng)便攜式EL檢測(cè)儀器光伏電站運(yùn)維監(jiān)控設(shè)備
SIC涂層MOCVD外延片石墨托盤
我公司擁有多名日本專家、博士工程師及*經(jīng)營(yíng)管理團(tuán)隊(duì)，擁有專業(yè)從事碳化硅涂層以及對(duì)石墨產(chǎn)品進(jìn)行高溫純化除雜技術(shù)。公司產(chǎn)品及技術(shù)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)，LED行業(yè)，航...
型號(hào)： 120µ... 所在地：北京市參考價(jià)： ￥10000 更新時(shí)間：2020/12/22 14:05:53 對(duì)比

石墨托盤高純石墨石墨涂層石墨制品石墨頂針
便攜式戶外 IV 曲線測(cè)試儀
便攜式戶外 IV曲線測(cè)試儀，短路電流，開路電壓，峰值功率，峰值功率點(diǎn)電壓、電流，定電壓點(diǎn)電流，填充因子，轉(zhuǎn)換效率，串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻，太陽(yáng)電池溫度，環(huán)境溫度、輻...
型號(hào)： HS-IS 所在地：北京市參考價(jià)： ￥80000 更新時(shí)間：2020/12/18 17:47:13 對(duì)比

IV曲線檢測(cè)電池片iv曲線組件iv曲線檢測(cè)光伏組件的IV測(cè)試光伏電站iv曲線監(jiān)控
進(jìn)口光伏檢測(cè)儀器的維護(hù)和保修
進(jìn)口光伏檢測(cè)儀器的維護(hù)和保修合能陽(yáng)光公司給您“24小時(shí)，48小時(shí)服務(wù)到位，365天節(jié)假日不休息(人休崗不休)"的服務(wù)承諾，光伏儀器專家團(tuán)隊(duì)給您提供免費(fèi)的咨詢?cè)冎?..
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/5/5 1:33:16 對(duì)比

進(jìn)口光伏檢測(cè)儀器的維護(hù)和保修
MWR-2S-3I無(wú)接觸少子壽命及紅外探傷綜合測(cè)試儀
MWR-2S-3I是一款功能異常強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命及紅外探傷綜合測(cè)試儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試。一方...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/5/1 13:39:38 對(duì)比

紅外探傷和少子壽命測(cè)試
HS-PSTT原生多晶型號(hào)測(cè)試儀
HS-PSTT原生多晶及硅芯型號(hào)測(cè)試儀是一款半導(dǎo)體材料型號(hào)測(cè)試儀器，具有大量程測(cè)試范圍的特點(diǎn)，尤其適用于西門子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/3/27 19:48:21 對(duì)比

硅料型號(hào)測(cè)試
紅外探傷測(cè)試儀
可從四個(gè)方向進(jìn)行自動(dòng)取樣■ 可快速進(jìn)行樣塊的快速測(cè)量■ 軟件會(huì)對(duì)探測(cè)結(jié)果進(jìn)行評(píng)價(jià)■ 可對(duì)檢測(cè)參數(shù)進(jìn)行靈活設(shè)置■ 可進(jìn)行像素管理和圖像處理■ 系統(tǒng)將對(duì)探測(cè)結(jié)果進(jìn)行...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/2/28 2:04:57 對(duì)比

硅材料檢測(cè)多晶硅檢測(cè)紅外探測(cè)
多晶硅料檢測(cè)紅外探測(cè)儀
可從四個(gè)方向進(jìn)行自動(dòng)取樣■ 可快速進(jìn)行樣塊的快速測(cè)量■ 軟件會(huì)對(duì)探測(cè)結(jié)果進(jìn)行評(píng)價(jià)■ 可對(duì)檢測(cè)參數(shù)進(jìn)行靈活設(shè)置■ 可進(jìn)行像素管理和圖像處理■ 系統(tǒng)將對(duì)探測(cè)結(jié)果進(jìn)行...
型號(hào)： NIR-01-3D 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/2/20 13:06:48 對(duì)比

硅料檢測(cè)多晶硅檢測(cè)紅外探測(cè)
Helios-PL光致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)
咨詢，Helios-PL光致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)Χ喾N太陽(yáng)能電池少子壽命進(jìn)行快速二維分析，能夠準(zhǔn)確的測(cè)量和計(jì)算出電池的缺陷分布及密度，同時(shí)準(zhǔn)確反饋結(jié)果以很好的改進(jìn)電...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/2/17 5:42:15 對(duì)比

光致發(fā)光測(cè)試
無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀（TRM-100）
HS-TRM-100型無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流（Eddy Current）測(cè)試技術(shù)，能夠?qū)枇稀⒐璋簟⒐桢V及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、無(wú)損傷的體電阻率測(cè)試。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/1/22 5:40:50 對(duì)比

無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀
電池片數(shù)片機(jī)
產(chǎn)品介紹:太陽(yáng)能電池片數(shù)片機(jī)，可對(duì)太陽(yáng)能硅片及電池片進(jìn)行準(zhǔn)確計(jì)數(shù)分析。是一款簡(jiǎn)潔、高效、精確、高品質(zhì)的數(shù)片機(jī)。同時(shí)可配合barcode系統(tǒng)進(jìn)行產(chǎn)品管理，避免數(shù)量...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/1/18 11:59:02 對(duì)比

硅片電池片數(shù)片
硅料綜合測(cè)試儀
本儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽(yáng)能行業(yè)的篩選。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/1/18 8:10:13 對(duì)比

電阻率型號(hào)測(cè)試
手動(dòng)無(wú)接觸硅片測(cè)試儀（HS-NCS-300）
手動(dòng)硅片測(cè)試儀可以測(cè)量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國(guó)材料實(shí)驗(yàn)協(xié)會(huì))...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/1/15 10:00:02 對(duì)比

無(wú)接觸硅片測(cè)試儀
SS50AAA-PLC太陽(yáng)模擬器
SS50AAA-PLC太陽(yáng)模擬器是用來(lái)模擬太陽(yáng)輻照度和頻譜的設(shè)備。太陽(yáng)模擬器廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池特性測(cè)試，光電材料特性測(cè)試，生物化學(xué)相關(guān)測(cè)試，光學(xué)催化降解加速研...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/1/7 19:47:46 對(duì)比

太陽(yáng)模擬器
HS-POSRT大量程電阻率測(cè)試儀
HS‐POSRT原生多晶電阻率測(cè)試儀是一款電阻率測(cè)試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測(cè)量的特點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)了電阻率從0.0001歐姆.厘米到幾萬(wàn)歐姆.厘米（可擴(kuò)展）的...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/30 20:38:21 對(duì)比

大量程電阻率測(cè)試儀
金屬四探頭電阻率方阻測(cè)試儀
用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/29 22:40:56 對(duì)比

電阻率方阻測(cè)試儀
PET標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能電池
PET標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能電池于校準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器的輻照。也可以使用(配套設(shè)備)來(lái)衡量太陽(yáng)模擬器時(shí)間穩(wěn)定性和/光束的非均勻性。另外，還可以用來(lái)IV測(cè)量系統(tǒng)光電流強(qiáng)度來(lái)校準(zhǔn)測(cè)量...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/20 7:17:32 對(duì)比

校準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器的輻照
雜質(zhì)含量測(cè)試儀（元素含量分析）
適合于對(duì)晶體進(jìn)行雜質(zhì)含量測(cè)試，其主要用途是對(duì)樣品中包括Si、Fe、Mg、Ca、Ti、Na、Cu、Pb在內(nèi)的多種個(gè)元素進(jìn)行分析。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/19 11:42:15 對(duì)比

藍(lán)寶石原料雜質(zhì)含量分析元素含量分析
硅材料碳氧測(cè)試儀HS-OCT-2000
1）適合于硅材料的氧、碳含量的測(cè)定；2）可實(shí)現(xiàn)硅料中氧碳含量自動(dòng)、快速、準(zhǔn)確的測(cè)量；3）具備完整的譜圖采集、光譜轉(zhuǎn)換、光譜處理、光譜分析及輸出功能，使得操作更簡(jiǎn)...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/17 14:44:05 對(duì)比

氧、碳含量的測(cè)定

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