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硅料快速分選儀：HS-QSD
產(chǎn)品介紹:合能陽光硅料快速分選儀(HS-QSD)，是一款專門為拉單晶廠商硅料分選而設(shè)計研發(fā)的
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:34:37 對比
型號測試儀：HS-HCTT
產(chǎn)品介紹：本儀器是嚴格按照ASTMF42（非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型的標(biāo)準測試方法）中的熱探針設(shè)計的便攜式導(dǎo)電型號鑒別儀
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:33:04 對比
硅芯電阻率測試儀：HS-SFRT
產(chǎn)品介紹:合能陽光硅芯電阻率測試儀(HS-SFRT)，是一款測量圓柱晶體硅電阻率測試儀器，可測量硅芯，檢磷棒，檢硼棒，籽晶等，由于儀器大大消除了珀爾帖效應(yīng)、塞貝...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:31:30 對比
進口氧碳測試儀：HS-OCT-6700
產(chǎn)品介紹:我公司的經(jīng)銷的美國進口硅材料氧碳含量測試儀器，所測硅料硅棒硅片氧、碳含量自動、快速、準確，可靠性高，穩(wěn)定性好，一致性佳，ASTM線性度對0.0%T的偏...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:29:55 對比
大量程電阻率測試儀：HS-POSRT
產(chǎn)品介紹：合能陽光的原生多晶電阻率測試儀(HS-POSRT)，是一款電阻率測試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測量的特點，實現(xiàn)了電阻率從0.0001歐姆.厘米到...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:28:40 對比
原生多晶型號測試儀：HS-PSTT
產(chǎn)品介紹：合能陽光原生多晶型號測試儀(HS-PSTT)，是一款半導(dǎo)體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點，尤其適用于西門子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料（含...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:27:26 對比
硅料硼磷含量測試儀:HS-ICP-MS
產(chǎn)品介紹:硅料磷、硼雜質(zhì)含量測試儀，其主要用途是對多晶硅料的包括磷硼含量在內(nèi)的超過75個元素進行分析
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:25:43 對比
硅片表面線痕深度測試儀：HS-SRT-301
硅片表面線痕深度測試儀(HS-SRT-301)可用于測試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節(jié)能等優(yōu)點，同時內(nèi)置打印機和充電電池，所有設(shè)...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:24:27 對比
藍寶石偏光應(yīng)力儀：PKS-250M
產(chǎn)品介紹:進口偏光應(yīng)力儀可對透明及弱色材料的雙折射率進行檢測，并通過Senarmont補償法精確計算出光程誤差不超過10nm的雙折射率的值
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:22:23 對比
藍寶石缺陷觀測激光筆和偏光鏡：LP-100
產(chǎn)品特點：■操作非常簡單■攜帶非常簡便■可以針對多種缺陷：氣泡和夾雜物/晶體亞晶粒/裂縫/次表面特征件等等■價格低壽命長缺陷簡單分析：1．激光筆和強光手電：■光...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:20:39 對比
藍寶石表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)：SQM-500W
產(chǎn)品介紹:SQM-500W表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)用于對樣品表面清潔質(zhì)量進行檢測與分析
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:19:03 對比
藍寶石3D測量顯微鏡：HS-WDI-2000
產(chǎn)品介紹:北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司成功地設(shè)計開發(fā)出高性能HS-WDI-2000型高級數(shù)碼正置金相顯微鏡
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:17:27 對比
藍寶石及碳化硅晶片平坦度及表面形態(tài)測試儀：FM-200
產(chǎn)品介紹:藍寶石及碳化硅晶片平坦度及表面形態(tài)測試儀為精密部件的制造商提供了業(yè)界的表面形態(tài)測量
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:16:11 對比
無接觸少子壽命測試儀：HS-SIM
合能陽光無接觸少子壽命測試儀(MWR-SIM)，是一款功能強大的無接觸少子壽命測試儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試，其...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:14:24 對比
金屬四探針電阻率方阻測試儀：HS-MPRT-5
產(chǎn)品介紹:陽光的金屬四探頭電阻率方阻測試儀（HS-MPRT-5）是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器....
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:13:08 對比
硅材料碳氧含量測試儀：HS-OCT-2000
產(chǎn)品特點：■適合于硅材料的氧、碳含量的測定
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:11:25 對比
硅片缺陷觀測儀：HS-WDI
產(chǎn)品介紹：硅片缺陷觀測儀(HS-WDI)，于對硅片的缺陷進行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:09:50 對比
平整度測試系統(tǒng)：OWT-200
產(chǎn)品簡介：OWT-200平整度測試系統(tǒng)，采用光學(xué)方法測量晶圓、藍寶石、Sic、Si、玻璃等材質(zhì)的表面特征，在無需任何接觸的情況下測量厚度、TTV、LTV、彎曲度...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:08:22 對比
半自動無接觸硅片測試儀：HS-NCS-200SA
半自動無接觸硅片測試儀(HS-NCS-200SA型)可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度、翹曲度、單點和總體平整度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，G...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:06:55 對比
無接觸式電阻率型號測試儀：TRM-100
無接觸式電阻率型號測試儀TRM-100是基于渦流（EddyCurrent）測試技術(shù)，能夠?qū)枇稀⒐璋?、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:05:31 對比

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北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司

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