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HS-PSTT原生多晶型號(hào)測(cè)試儀
HS-PSTT原生多晶及硅芯型號(hào)測(cè)試儀是一款半導(dǎo)體材料型號(hào)測(cè)試儀器，具有大量程測(cè)試范圍的特點(diǎn)，尤其適用于西門(mén)子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/3/27 19:48:21 對(duì)比

硅料型號(hào)測(cè)試
無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀（TRM-100）
HS-TRM-100型無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流（Eddy Current）測(cè)試技術(shù)，能夠?qū)枇?、硅棒、硅錠及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、無(wú)損傷的體電阻率測(cè)試。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/1/22 5:40:50 對(duì)比

無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀
硅料綜合測(cè)試儀
本儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽(yáng)能行業(yè)的篩選。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/1/18 8:10:13 對(duì)比

電阻率型號(hào)測(cè)試
HS-POSRT大量程電阻率測(cè)試儀
HS‐POSRT原生多晶電阻率測(cè)試儀是一款電阻率測(cè)試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測(cè)量的特點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)了電阻率從0.0001歐姆.厘米到幾萬(wàn)歐姆.厘米（可擴(kuò)展）的...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/30 20:38:21 對(duì)比

大量程電阻率測(cè)試儀
金屬四探頭電阻率方阻測(cè)試儀
用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/29 22:40:56 對(duì)比

電阻率方阻測(cè)試儀
PET標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能電池
PET標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能電池于校準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器的輻照。也可以使用(配套設(shè)備)來(lái)衡量太陽(yáng)模擬器時(shí)間穩(wěn)定性和/光束的非均勻性。另外，還可以用來(lái)IV測(cè)量系統(tǒng)光電流強(qiáng)度來(lái)校準(zhǔn)測(cè)量...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/20 7:17:32 對(duì)比

校準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器的輻照
無(wú)接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)（PV-1000）
PV-1000系列無(wú)接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)為太陽(yáng)能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無(wú)接觸電阻率測(cè)量功能。并...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/16 10:14:03 對(duì)比

無(wú)接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試
金屬四探頭電阻率方阻測(cè)試儀 - HS-MPRT-5
本儀器用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/12 22:27:03 對(duì)比

電阻率方阻測(cè)試儀
硅片測(cè)厚儀（HS-WTT）
適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/5 8:42:52 對(duì)比

硅片厚度
無(wú)接厚度電阻率測(cè)試儀器
NCS-R80 無(wú)接觸厚度電阻率測(cè)試儀是一款用于硅片的厚度、電阻率測(cè)量的專業(yè)儀器，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合AS...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/3 2:26:27 對(duì)比

厚度電阻率測(cè)試儀
NCS-R90無(wú)接觸方阻測(cè)試儀
NCS-R90 無(wú)接觸方塊電阻測(cè)試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池片制造過(guò)程中對(duì)表面方塊電阻進(jìn)行無(wú)損測(cè)量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2015/6/29 8:52:11 對(duì)比

電阻率方阻測(cè)試儀
PV-2000無(wú)接觸硅片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
PV-2000系列無(wú)接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)為太陽(yáng)能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無(wú)接觸電阻率測(cè)量功能。并...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2014/12/4 5:13:51 對(duì)比

無(wú)接觸硅片自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

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