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詳細摘要： 薄膜測厚儀適用于介質，半導體，薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該測厚儀，是我公司與美國new-span公司*的薄膜測厚技術，基于白光干涉的原理來測定薄膜...

詳細摘要： 自動橢圓偏振測厚儀廣泛地應用在光學、材料、生物、醫(yī)學等各個領域。其中測量薄膜材料的厚度、折射率和消光系數(shù)是橢圓偏振法基本、重要的應用之一 。

詳細摘要： F-320型熒光分光光度計優(yōu)質的電機驅動使掃描速度高達21000nm/min，*的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)確保在高速掃描過程中得到豐富的數(shù)據(jù)點，從而保證測試光譜的真實性和準...

詳細摘要： F93熒光分光光度計自動調(diào)零、自動本底扣除；八段靈敏度調(diào)節(jié)；實時熒光值，熒光值超寬動態(tài)范圍，可測定微量樣品變化；

詳細摘要： F95S熒光分光光度計可以進行便捷、舒適、快速的高精度熒光強度測量，適用于材料研究、藥品分析、生化及臨床檢驗、水質分析控制、食品安全檢測等領域的定性定量分析。

詳細摘要： F90系列熒光分光光度計高強度的150W氙燈為連續(xù)光譜，可在200nm至900nm波長范圍內(nèi)提供出色的測試穩(wěn)定性。

詳細摘要： F-280型熒光分光光度計引用先的設計理念，并且采用高精端配件生產(chǎn)而成。測試譜圖的準確性和重復性達到更高，與國外同類產(chǎn)品持平。

詳細摘要： 熒光分光光度計具有*避光保護系統(tǒng)。激發(fā)側配有擋光快門，可以減少樣品的曝光時間，保護光敏樣品；發(fā)射側配有門控光閘，保證接收器不會被強光直射，延長了接收器的使用壽命...

詳細摘要： 光學非線性測量儀光路簡單（采用單光束），測量靈敏度高，直接測量開孔、閉孔及光斑信息，同時測量非線性折射率和非線性吸收系數(shù)

詳細摘要： 條紋投影三維外形測量實驗系統(tǒng)利用投影式莫爾輪廓測量系統(tǒng)，將基準光柵的像通過光學系統(tǒng)投影到待測物體的表面，受物體表面高度調(diào)制而形成變形光柵。