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詳細(xì)摘要： 薄膜測厚儀適用于介質(zhì)，半導(dǎo)體，薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該測厚儀，是我公司與美國new-span公司*的薄膜測厚技術(shù)，基于白光干涉的原理來測定薄膜...

詳細(xì)摘要： 自動(dòng)橢圓偏振測厚儀廣泛地應(yīng)用在光學(xué)、材料、生物、醫(yī)學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域。其中測量薄膜材料的厚度、折射率和消光系數(shù)是橢圓偏振法基本、重要的應(yīng)用之一 。