上海昊量光電設(shè)備有限公司
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詳細(xì)摘要： Film-Sense多波長上海昊量光電推出的多波長橢偏儀采用長壽命的LED光源，可分別提供405nm、450nm、465nm、525nm、595nm、635nm...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-14 在線留言
詳細(xì)摘要： Mprobe20單點(diǎn)薄膜測量儀MProbe20是一款桌面式單點(diǎn)薄膜厚度測量系統(tǒng)，只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)就可進(jìn)行薄膜厚度和折射率測量，測量厚度范圍1nm-1mm
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 手持式膜厚測量儀-MProbe20HC（彎曲表面）手持式膜厚測量儀-MProbe20HC（彎曲表面）基于MProbe20平臺(tái)可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE40MSPMProbe40測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標(biāo)在小地方
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 美國Semisonsoft膜厚測量儀MProbe-MAKINGTHINFILMSTHICKNESSMEASUREMENTEASY美國Semisonsoft公司M...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-13 在線留言
詳細(xì)摘要： MPROBE50INSITU–實(shí)時(shí)薄膜厚度測量儀原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSITU用于測量薄膜厚度和n原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSI...
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詳細(xì)摘要： 薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE60（精確定位測量）MProbe60是一站式系統(tǒng)，專為研發(fā)中心和小型制造而設(shè)計(jì)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 薄膜無損檢測系統(tǒng)，半導(dǎo)體無損檢測系統(tǒng)l產(chǎn)品特點(diǎn)系統(tǒng)使用獲得zuanli的光聲技術(shù)設(shè)計(jì)無損測量系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測量儀-MPROBE70在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測量儀-MPROBE70是一種高性能厚度測量系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-13 在線留言
詳細(xì)摘要： Xper-IP激光干涉膜厚測量儀Xper-IP是基于公司的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 非接觸式金屬膜厚測量儀昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCusTFSeries，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實(shí)時(shí)測量...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-02 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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