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微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP

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更新時間：2024-02-13 16:05:14瀏覽次數(shù)：154次

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產(chǎn)品簡介

微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE40MSPMProbe40測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方

詳細介紹

微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP

MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時結(jié)合顯微鏡，用于小點薄膜厚度測量。微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP用于數(shù)千種應用程序，并提供完整的標準模型系列來支持它們。微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地測量 1 納米到 2 毫米的厚度，包括多層薄膜堆疊。不同的模型主要由的波長范圍和分辨率來區(qū)分，這反過來又決定了可以測量的厚度范圍。

微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP

微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP的應用：

1. 測量圓柱或曲面上薄膜厚度：注射器、支架、銷釘、電線等。即使在高度彎曲的表面上，小點也會產(chǎn)生平坦的場以實現(xiàn)精確測量。

2. 不均勻、粗糙的涂層或光散射材料，如高霧度或納米粒子注入薄膜。小光斑定位測量有效地減少光散射和不均勻性的影響

3.圖案晶圓、MEMS 和其他需要高靈敏度領(lǐng)域的小區(qū)域測量的應用。

微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP基本規(guī)格：

精度	0.01nm或0.01%
準確度	0.2%或1nm
穩(wěn)定性	0.02nm或0.03%
聚焦點尺寸	0.2mm或0.4mm
樣品尺寸	>20mm
厚度范圍	0.05-70um
波長范圍	400-1000nm

微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP選型列表：

MProbe 40	波長范圍	厚度范圍
VIS	400nm -1100nm	10nm – 75 μm
UVVISSR	200nm -1100nm	1nm -75μm
VISHR	700nm-1100nm	1μm-400μm
NIR	900nm-1700nm	50nm – 85μm
UVVisF	200nm -1700nm	1nm – 85μm
UVVISNIR	200nm-800nm	1nm -5μm
NIRHR	1500nm -1550nm	10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)

*可根據(jù)要求設計定制探頭

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