束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
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詳細(xì)摘要： ModuLab XM MTS 材料電特性測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2021-06-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹263A恒電流/恒電位儀是很多實(shí)驗(yàn)室的理想選擇，它非常適用于對(duì)性能要求高而預(yù)算又無法確定的研究人員，它的可升級(jí)性使得配置極為靈活，令人印象深刻的性價(jià)比，...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的，進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)
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詳細(xì)摘要： MDPpicts溫度依賴的光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測(cè)MicrowaveDetectedPhotoInducedCurrentTransientSpectroscop...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述提供直流測(cè)量及阻抗測(cè)試均達(dá)fA準(zhǔn)確度及aA分辨率可作為PARSTAT4000A,VersaSTATV3,V3F,V4及PMC系列電化學(xué)工作站的即插即用選...
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詳細(xì)摘要： MDPinline是一種用于快速定量測(cè)量載流子壽命并集成掃描功能的檢測(cè)儀
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詳細(xì)摘要： Mono-andMulti-crystallinewaferlifetimemeasurementdevice應(yīng)用范圍：用于精密材料研發(fā)的單晶和多晶片的壽命測(cè)量...
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詳細(xì)摘要： Mono-andMulti-crystallinewaferandbricklifetimemeasurementdevice應(yīng)用范圍：用于常規(guī)質(zhì)量控制、精密材...
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詳細(xì)摘要： JADE智能化XRD分析軟件JADEIntelligentXRDAnalysisSoftwarMaterialsData(MDI)總部位于美國(guó)加利福尼亞州，幾十...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2021-06-29 在線留言
詳細(xì)摘要： PDF-2數(shù)據(jù)庫(kù)物相鑒定+高性價(jià)比無機(jī)物數(shù)據(jù)庫(kù)免費(fèi)贈(zèng)送配套物相檢索軟件SIeve版權(quán)使用期限：5年P(guān)DF-2物相鑒定衍射條目2017年新增衍射條目7
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詳細(xì)摘要： Skyscan1275-高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)，應(yīng)用于地球科學(xué)、油氣勘探領(lǐng)域，可以對(duì)巖心、巖石礦石、微體化石、古生物等進(jìn)行快速掃描三維容積成像，實(shí)現(xiàn)低滲透...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述：傳遞函數(shù)包含電子響應(yīng)
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詳細(xì)摘要： 電化學(xué)池 Tait Cell Kit
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詳細(xì)摘要： 電化學(xué)池 Flat Cell Kit
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹ModelQty
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述適合生物
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詳細(xì)摘要： SKYSACN3d納米x射線顯微鏡ct-一款用于顯微樣品三維成像的實(shí)驗(yàn)室級(jí)超高分辨率CT掃描儀,可對(duì)直徑為30cm，長(zhǎng)度40cm樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行3D無損檢測(cè)與...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹為分析低電導(dǎo)率、低損耗材料，即使是頻響分析儀阻抗儀（1260A）單獨(dú)使用時(shí)，已不能有效地解決上述問題，需要擴(kuò)展其能力
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