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更新時(shí)間：2023-03-20 18:14:11瀏覽次數(shù)：379次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線E4991A 射頻阻抗材料分析儀 提供極限阻抗測(cè)量性能和功能強(qiáng)大的內(nèi)置分析功能。它將為元器件和電路設(shè)計(jì)人員測(cè)量 3 GHz 以內(nèi)的元器件提供**功能，幫助他們進(jìn)行研發(fā)工作。
名稱：E4991A 射頻阻抗材料分析儀
詳細(xì)：主要技術(shù)指標(biāo)
基本精度
基本精度 +/-0.8%
掃描參數(shù)
頻率：1 MHz 至 3 GHz
振蕩器電平：高達(dá) 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
Windows 風(fēng)格的用戶界面
內(nèi)置 VBA 編程功能
通過 LAN 接口進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸
多功能測(cè)量選件
介電/磁性材料測(cè)量（選件 E4991A-002）
可靠的晶圓測(cè)量（選件 E4991A-010）
溫度特性測(cè)量（選件 E4991A-007）
描述
E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測(cè)量性能和功能強(qiáng)大的內(nèi)置分析功能。它將為元器件和電路設(shè)計(jì)人員測(cè)量 3 GHz 以
內(nèi)的元器件提供**功能，幫助他們進(jìn)行研發(fā)工作。與反射測(cè)量技術(shù)不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術(shù)，可在
廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測(cè)量結(jié)果?；咀杩咕仁?span lang="EN-US"> +/-0.8%。高 Q 精度有利于進(jìn)行低功耗元器件分析。內(nèi)置合
成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。
材料評(píng)估
E4991A 提供完整的介電/磁性材料測(cè)量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。
晶圓測(cè)量
借助E4991A-010 探針臺(tái)連接套件，您可輕松地地將 Agilent E4991A 連接到射頻探頭系統(tǒng)（由 Cascade Microtech 提供）上進(jìn)行晶圓測(cè)量。
溫度特性評(píng)估
溫度特性測(cè)試套件 E4991A-007 是一款為元器件和材料進(jìn)行溫度特性測(cè)量的新型解決方案。該選件可在 - 55°C 至 + 150°C 廣泛的溫度
范圍內(nèi)提供高精度的溫度特性分析功能，以及強(qiáng)大的溫度漂移補(bǔ)償功能。
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