菲希爾x-ray射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x射線厚度測試儀/x射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237設(shè)計(jì)理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237是一款界面友好的臺式測量儀器。它裝備了高精度，可編程運(yùn)行的 工作臺和電調(diào)的軸升降系統(tǒng)，是進(jìn)行自動測量的理想儀器。當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí)，工作臺會自動移到放置樣品的位置。通過激光光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀察測量過程和進(jìn)度。位置的精-確微調(diào)可以直接手動調(diào)整儀器或搖桿，或通過操作鼠標(biāo)和鍵盤來實(shí)現(xiàn)。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。所有的操作，測量數(shù)據(jù)的計(jì)算，以及測量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示都是通過強(qiáng)大而界面友好的 軟件在電腦上完成的。
XDAL型鍍層測厚及材料分析儀作為受保護(hù)的儀器，型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)規(guī)定。
菲希爾x-ray射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x射線厚度測試儀/x射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
? 分析小于 的超薄鍍層
? 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
? 測定復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)
? 全自動測量，如在質(zhì)量控制領(lǐng)域
? 分析焊錫中鉛含量
? 配備可選的 SDD 探測器：可測量鎳磷中的磷含量
為了使每次測量都在*佳的激發(fā)條件下進(jìn)行，德國菲希爾/費(fèi)希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237配備了可電動切換的多個(gè)準(zhǔn)直器和基本濾片。*新的半導(dǎo)體探測器能夠達(dá)到很高的分析精度及探測靈敏度。型 射線熒光材料分析及鍍層測厚儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就大大減少了重新校準(zhǔn)儀器的需要，為您節(jié)省時(shí)間和精力。由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。從元素鋁（ ）到鈾（ ），*多可同時(shí)測定種元素。尤其適合測量和分析超薄鍍層，即使是十分復(fù)雜的成分構(gòu)成或是十分微小的成分含量都不成問題。儀器配備高速可編程運(yùn)行的 平臺，它是質(zhì)量控制和生產(chǎn)監(jiān)控的自動測量過程的*合適的測量儀器。
菲希爾x-ray射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x射線厚度測試儀/x射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237詳細(xì)參數(shù)規(guī)格：
1、通用規(guī)格
設(shè)計(jì)用途：能量色散X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。
形式設(shè)計(jì)：臺式儀器，測量門向上開啟可編程的工作臺和電調(diào)的軸馬達(dá)驅(qū)動的可更換的準(zhǔn)直器和基本濾片
視頻攝像頭和激光點(diǎn)（類）定位測量點(diǎn)。
測量方向：從上到下。
2、X 射線源
X射線管：帶鈹窗口的微聚焦管
高壓、三檔：10、30、50KV
孔徑（準(zhǔn)直器） ：4個(gè)可切換準(zhǔn)直器：圓形；長方形、可按要求定制其它規(guī)格。
基本濾片：3 種可切換的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)配置：鎳，鋁，無）
測量點(diǎn)：取決于測量距離及準(zhǔn)直器大??；在視頻窗口中顯示實(shí)際的測量點(diǎn)大小。*小的測量點(diǎn)大小約為0.15mm直徑。
測量距離：0-80mm、在不同距離使用磚利 簡化方法的距離補(bǔ)償測量。如果是特定的應(yīng)用程序或更高的校準(zhǔn)精度要求，校正是必要的。
3、X射線探測
標(biāo)準(zhǔn)：x射線接收器采用珀耳帖法冷卻的半導(dǎo)體探測器、能量分辨率小于等于200eV、元素范圍硫?yàn)?/span>S(16)到到鈾U(92)
可選 SDD：x射線接收器采用珀耳帖法冷卻的硅漂移探測器、能量分辨率小于等于160eV、元素范圍為鋁AL(13) 到鈾U(92)
4、樣品定位
視頻系統(tǒng)：高分辨率 彩色攝像頭，沿著初級射線光束方向觀察測量位置手動聚焦，對被測位置進(jìn)行監(jiān)控
十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸）、可調(diào)節(jié)亮度的照明、激光光點(diǎn)用于精-確定位樣品。
放大倍數(shù)：40*-160*
5、工作臺
快速，電機(jī)驅(qū)動，可編程的X/Y工作臺
*大移動范圍 XY方向：255mm*235mm ； Z軸:140mm
Xy平臺*快移動速度 80mm/s
xyz移動重復(fù)精度 小于等于0.01mm（單向）
可用樣品放置區(qū)域 長寬：300mm*350mm
樣品*大重量 5kg，降低精度要求情況下可達(dá)20kg
樣品*大高度 140mm
6、電氣參數(shù)
電源要求 交流220v、50HZ
功耗 *大 120W(不包括計(jì)算機(jī))
保護(hù)等級IP40
7、尺寸規(guī)格
外部尺寸寬深高 ：570*760*650
重量約115kg
內(nèi)部測量室尺寸寬深高：460*495*146
8、環(huán)境要求
使用時(shí)溫度：10-40攝氏度
存儲或運(yùn)輸時(shí)溫度：0-50攝氏度
空氣相對濕度 ，小于等于95%、無結(jié)露
9、計(jì)算單元
計(jì)算機(jī)：帶擴(kuò)展卡的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
軟件：標(biāo)準(zhǔn)： 包含fischer winFTM BASIC 包含PDM；可選：fischer winFTM SUPER
10、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
CE合格標(biāo)準(zhǔn)：EN61010
X射線標(biāo)準(zhǔn)：DIN ISO 3497和ASTM B 568
型式批準(zhǔn)：作為受保護(hù)的儀器
型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)的規(guī)定。
11、菲希爾x-ray射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x射線厚度測試儀/x射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237訂貨號
標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體探測器 604-348
可選SDD探測器 605-567
如有特殊要求，可與fischer磋商，定制特殊的XDAL型號。
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