深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 菲希爾（Fischer）的載荷漸進(jìn)式劃痕儀ST200可以用于分析薄膜及涂層材料的結(jié)合力和附著力等特性，例如厚度在1μm以上的PVD、CVD、PECVD薄膜、感光...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2023-02-18 在線留言
詳細(xì)摘要： 技術(shù)參數(shù)：光譜范圍：190-2100 nm8種光斑尺寸: 小35 X 85 um探測(cè)器：3個(gè)獨(dú)立探測(cè)器，分別優(yōu)化紫外，可見和近紅外自動(dòng)樣品臺(tái)尺寸：200mm X...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2023-01-28 在線留言
詳細(xì)摘要： Gaertner LSE-2A2W 進(jìn)口橢偏儀。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2023-01-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 具備性價(jià)比的 ContourX-100 光學(xué)輪廓儀為精確的、可重復(fù)的、非接觸式表面測(cè)量樹立了新基準(zhǔn)。該系統(tǒng)占地面積小，所采用的簡(jiǎn)化方案融合了布魯克幾十年的白光干...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2023-01-17 在線留言
詳細(xì)摘要： ContourX-200 光學(xué)輪廓儀提供了高級(jí)表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的融合，是同類產(chǎn)品中、最準(zhǔn)確、可重復(fù)性的非接觸式三維表面計(jì)量系統(tǒng)。該計(jì)量系統(tǒng)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2023-01-15 在線留言
詳細(xì)摘要： ContourGT-X 三維光學(xué)輪廓儀提供高性能非接觸表面測(cè)量，適用于實(shí)驗(yàn)室研究和生產(chǎn)過程控制。該測(cè)量系統(tǒng)融合了十代白光干涉（WLI）創(chuàng)新和設(shè)計(jì)，可在業(yè)界的視場(chǎng)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2023-01-14 在線留言
詳細(xì)摘要： AVANCE NEO 代表非常成功的 AVANCE 系列產(chǎn)品線中的新一代產(chǎn)品，這一系列產(chǎn)品確立了布魯克在 NMR 技術(shù)及市場(chǎng)的。雖然上一代 AVANCE III...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2023-01-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 高溫超納米壓痕測(cè)試儀 (UNHT3 HTV)一臺(tái)真正意義的商品化的高溫高真空超納米壓痕儀，主要測(cè)量小載荷下納米尺度機(jī)械性能的測(cè)試系統(tǒng)，溫度在 800 C 以下的...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2022-10-25 在線留言
詳細(xì)摘要： Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測(cè)試。這套全新系統(tǒng)搭...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2022-10-24 在線留言
詳細(xì)摘要： The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測(cè)試。這套全...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：深圳市更新時(shí)間：2022-10-23 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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