上海昊量光電設(shè)備有限公司
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詳細(xì)摘要： 軟件WaveImageModal模態(tài)分析軟件WaveImageModal是一款允許通過(guò)已知的實(shí)驗(yàn)?zāi)B(tài)(EMA)和工作模態(tài)分析(OMA)方法確定振動(dòng)特性的強(qiáng)大軟件
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詳細(xì)摘要： 全自動(dòng)模態(tài)脈沖力錘WavehitWaveHitMAX是一款全自動(dòng)試驗(yàn)脈沖力錘，這款是生產(chǎn)、試驗(yàn)?zāi)B(tài)分析或聲共振分析的強(qiáng)大工具
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詳細(xì)摘要： 全自動(dòng)應(yīng)變儀LSM-9000LE是一款用于定量測(cè)量透明體內(nèi)延遲量的應(yīng)變和雙折射以及慢軸的方向的二維裝置
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詳細(xì)摘要： 沖壓工藝應(yīng)變分析儀AutoGrid®comsmart通過(guò)應(yīng)變分析保證金屬深拉伸工藝質(zhì)量沖壓應(yīng)變分析儀已成為檢測(cè)金屬深拉伸工藝的重要的一部分
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詳細(xì)摘要： 150AT全自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)全自動(dòng)應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)150AT應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品
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詳細(xì)摘要： 不規(guī)則非球面光學(xué)元件應(yīng)力分布測(cè)量系統(tǒng)（透鏡測(cè)量等）不規(guī)則非球面光學(xué)元件（光刻機(jī)透鏡等）應(yīng)力分布測(cè)量系統(tǒng)利用調(diào)制器技術(shù)，公司的測(cè)量系統(tǒng)可以在深紫外（193nm）波...
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詳細(xì)摘要： 光伏硅錠殘余應(yīng)力測(cè)量?jī)x光伏硅錠應(yīng)力檢測(cè)越早越好在光伏行業(yè)/半導(dǎo)體行業(yè)中，硅片的制作中，如果硅錠在生長(zhǎng)中有著很強(qiáng)的殘余應(yīng)力，切片時(shí)會(huì)很容易造成碎裂，所以對(duì)硅錠中應(yīng)...
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詳細(xì)摘要： 大型液晶面板高精度分布測(cè)量系統(tǒng)大尺寸，高精度液晶基板應(yīng)力分布測(cè)量!公司的大尺寸高精應(yīng)力雙折射分布測(cè)量系統(tǒng)專用于LED液晶玻璃基板的應(yīng)力分布測(cè)量
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詳細(xì)摘要： 性系數(shù)測(cè)量?jī)x光彈性系數(shù)是材料的特性常數(shù)主要是透明材料在受力后，會(huì)出現(xiàn)各項(xiàng)異性產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象
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詳細(xì)摘要： 雙折射顯微成像系統(tǒng)生物組織/材料雙折射分布顯微成像系統(tǒng)（基于穆勒矩陣的偏振顯微鏡）公司的MicroImager偏振顯微/雙折射顯微成像系統(tǒng)是一款基于穆勒矩陣的偏...
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詳細(xì)摘要： CRI的Abrio成像系統(tǒng)提供了一種的方法來(lái)測(cè)量和分析樣品中的微小量級(jí)雙折射
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詳細(xì)摘要： 法布里-珀羅光纖法布里-珀涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設(shè)計(jì)
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詳細(xì)摘要： XperWLI白光XperWLI是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器
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詳細(xì)摘要： KALEOMultiWAVE多波長(zhǎng)動(dòng)態(tài)【KALEOMultiWAVE簡(jiǎn)介】在光學(xué)計(jì)量領(lǐng)域持續(xù)創(chuàng)新，推出能夠兼顧測(cè)量透射誤差和反射波前誤差（TWE/RWE）的革命...
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詳細(xì)摘要： OPTIPHASE是一家高性能干涉系統(tǒng)的供應(yīng)商，提供用于精密測(cè)試和測(cè)量?jī)x器以及傳感系統(tǒng)的光纖
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詳細(xì)摘要： 皮米級(jí)距離測(cè)量（可試用）昊量光電推出的皮米級(jí)距離干涉測(cè)量?jī)xquDIS是目前市面上同類別可以測(cè)量皮米級(jí)距離的干涉儀
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詳細(xì)摘要： 激光振動(dòng)傳感器集成化/一體化光學(xué)技術(shù)昊量光電全新推出的激光振動(dòng)傳感器光學(xué)元件集成化可以實(shí)現(xiàn)更加復(fù)雜的設(shè)計(jì)和更多的功能
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詳細(xì)摘要： Mprobe20單點(diǎn)薄膜測(cè)量?jī)xMProbe20是一款桌面式單點(diǎn)薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)，只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)就可進(jìn)行薄膜厚度和折射率測(cè)量，測(cè)量厚度范圍1nm-1mm
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詳細(xì)摘要： 手持式膜厚測(cè)量?jī)x-MProbe20HC（彎曲表面）手持式膜厚測(cè)量?jī)x-MProbe20HC（彎曲表面）基于MProbe20平臺(tái)可以輕松測(cè)量曲面和大型零件的薄膜厚度...
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詳細(xì)摘要： 微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE40MSPMProbe40測(cè)量薄膜厚度和折射率單擊鼠標(biāo)在小地方
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