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上海昊量光電設(shè)備有限公司
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更新時間：2024-02-13 15:22:54瀏覽次數(shù)：150次
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CRI的Abrio成像系統(tǒng)提供了一種的方法來測量和分析樣品中的微小量級雙折射
CRI的Abrio成像系統(tǒng)提供了一種的方法來測量和分析樣品中的微小量級雙折射。用偏振光測量雙折射率的空間分布的傳統(tǒng)方法繁瑣且耗時。Abrio技術(shù)通過自動化定量極化顯微鏡的過程，打開了雙折射成像的大門，允許你準確地計算出每一個像素在幾秒內(nèi)的延遲幅度和方向
可檢測樣品：
l 光學材料
l 玻璃
l 聚合物
l 硅片
l 薄膜
l 鋁
l 石墨
特征：
l 每像素定量延遲數(shù)據(jù)
l 操作簡便，交互軟件
l 快速圖像采集（3s每幅）
l 延遲靈敏度到0.02nm
ABRIO成像系統(tǒng)
可視化和測量透射物體、反射物體（如玻璃，水晶，塑料，，鋁等）雙折射結(jié)構(gòu)，幾秒內(nèi)實現(xiàn)所有像素點成像。該系統(tǒng)包含的外設(shè)顯微鏡綜合了的液晶偏振光對比技術(shù)，控制電路，成像算法和交互式軟件。
定量雙折射數(shù)據(jù)
空間分辨率，數(shù)據(jù)采集速率，測量范圍和靈敏度使得Abrio成像系統(tǒng)成為分析注塑件，制造中的聚合物纖維，細胞生物學中的微觀結(jié)構(gòu)和制藥工業(yè)中的化合物的應(yīng)力和應(yīng)變的理想工具。
自動的延遲量和方位角數(shù)據(jù)
系統(tǒng)將自動計算樣本圖像中每個像素的延遲和方位數(shù)據(jù)。 原始數(shù)據(jù)和計算數(shù)據(jù)都可以存儲用于記錄和審查。
背景更正
系統(tǒng)將使用算法自動計算背景信息，以獲得高靈敏度和準確度。
偏振方向無關(guān)
的CRI的Abrio成像技術(shù)，偏振圖像是獨立于偏振器或標本的方向。 這導致了亮度，細節(jié)和清晰度均勻的圖像。
快速圖像采集
CRI簡易的軟件程序可讓您在幾秒鐘內(nèi)生成處理后的圖像
無移動部件
不需要手動操作或樣品。 計算機控制的基于液晶的光學系統(tǒng)可以產(chǎn)生的像素到像素圖像配準和準確的偏振控制。
全面的軟件分析工具
軟件工具可用于分析各種延遲量值和方向參數(shù)，
包含：
?線掃描
?偽彩色覆蓋
?單像素測量
?矢量疊加
?閾值
?面積計算
系統(tǒng)部件
基于液晶的偏振補償器
Abrio光學系統(tǒng)的核心是液晶（LC）組件，它可以改變光線的，而不會使部件運動，產(chǎn)生噪聲，最重要的是沒有圖像偏移。
綠色帶通
當通過目鏡觀察時，546納米將使圖像呈現(xiàn)高對比度綠色，這對于LC偏振補償光學器件是的。
圓偏振片
圓偏振器放置在光源和樣品之間。 確切位置取決于您的顯微鏡品牌和型號。
光耦合器
在顯微鏡的相機端口和相機之間放置0.45x或0.5x光耦合器。 這增加了入射CCD的光量，從而減少了圖像捕獲時間。
CCD相機，計算機和顯示器
這些組件和預(yù)安裝的PCI板卡允許您捕捉數(shù)字圖像。數(shù)字圖像可以進行處理，歸檔，導出或檢索，而不會損失質(zhì)量。
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