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日立膜厚儀三亞測厚儀供應(yīng)

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更新時間：2022-09-26 16:10:18瀏覽次數(shù)：225次

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丞普諾儀器（蘇州）有限公司

經(jīng)營模式：其他

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產(chǎn)品簡介

日立膜厚儀產(chǎn)品描述品牌一六儀器型號STU-50B類別下照式儀器尺寸550mm*480mm*470mm儀器重量45KGXY軸工作臺移動范圍50mm*50mmXY軸工作臺承重5KG測量元素范圍CI（17）-U（92）不同層相同元素檢查能力標(biāo)配涂鍍層分析范圍Li(3)-U(92)分析軟件同時分析23個鍍層24種元素X射線裝置微聚焦加強型射線管準(zhǔn)直器φ0

詳細(xì)介紹

日立膜厚儀產(chǎn)品描述

品牌	一六儀器	型號	STU-50B
類別	下照式	儀器尺寸	550mm480mm470mm
儀器重量	45KG	XY軸工作臺移動范圍	50mm*50mm
XY軸工作臺承重	5KG	測量元素范圍	CI（17）-U（92）
不同層相同元素檢查能力	標(biāo)配	涂鍍層分析范圍	Li(3)-U(92)
分析軟件	同時分析23個鍍層24種元素	X射線裝置	微聚焦加強型射線管
準(zhǔn)直器	φ0.5mm、φ0.2mm、φ0.1mm、φ0.05mm四準(zhǔn)直器任選一種	測量距離	具有距離補償功能，可改變測量距離測量凹凸異行物品，變焦距離可達(dá)0-30mm
對焦方式	高敏感鏡頭，手動對焦	樣品臺移動	高精密XY手動滑軌
其他附件	電腦一套，噴墨打印機，附件箱，12元素片，電鍍液測量杯（選配）標(biāo)準(zhǔn)片（選配）

　　丞普諾儀器（蘇州）有限公司產(chǎn)品*可以與國外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計制造經(jīng)驗。多年來與各大學(xué)、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系。

　　鍍層測厚儀測量方法：

　　鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

　　X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

日立膜厚儀三亞測厚儀供應(yīng)

　　鍍層測厚儀測量原理

　　磁吸力測量原理及測厚儀

　　磁鐵（測頭）與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系，這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可進(jìn)行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應(yīng)用廣。測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自停機構(gòu)組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動完成這一記錄過程。不同的型號有不同的量程與適用場合。這種儀器的特點是操作簡便、堅固耐用、不用電源，測量前無須校準(zhǔn)，價格也較低，很適合車間做現(xiàn)場質(zhì)量控制。

日立膜厚儀三亞測厚儀供應(yīng)

　　磁感應(yīng)原理測厚儀磁感應(yīng)原理是利用測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。由于是電子儀器，校準(zhǔn)容易，可以實多種功能，擴大量程，提高精度，由于測試條件可降低許多，故比磁吸力式應(yīng)用領(lǐng)域更廣。當(dāng)軟鐵芯上繞著線圈的測頭放在被測物上后，儀器自動輸出測試電流，磁通的大小影響到感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。早期的產(chǎn)品用表頭指示，精度和重復(fù)性都不好，后來發(fā)展了數(shù)字顯示式，電路設(shè)計也日趨完善。

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