污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過(guò)濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲(chǔ)水/集水/排水/輔助 水處理膜 過(guò)濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
丞普諾儀器(蘇州)有限公司
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地蘇州市
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更新時(shí)間:2022-09-26 15:29:37瀏覽次數(shù):144次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線鍍層厚儀產(chǎn)品描述品牌一六儀器型號(hào)XTU-A類別下照式儀器尺寸550mm*480mm*470mm儀器重量45KGXY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍50mm*50mmXY軸工作臺(tái)承重5KG測(cè)量元素范圍CI(17)-U(92)不同層相同元素檢查能力選配涂鍍層分析范圍CI(17)-U(92)分析軟件同時(shí)分析23個(gè)鍍層24種元素X射線裝置微聚焦射線管準(zhǔn)直器φ0
品牌 | 一六儀器 | 型號(hào) | XTU-A |
類別 | 下照式 | 儀器尺寸 | 550mm*480mm*470mm |
儀器重量 | 45KG | XY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍 | 50mm*50mm |
XY軸工作臺(tái)承重 | 5KG | 測(cè)量元素范圍 | CI(17)-U(92) |
不同層相同元素檢查能力 | 選配 | 涂鍍層分析范圍 | CI(17)-U(92) |
分析軟件 | 同時(shí)分析23個(gè)鍍層24種元素 | X射線裝置 | 微聚焦射線管 |
準(zhǔn)直器 | φ0.5mm、φ0.2mm兩準(zhǔn)直器任選一種 | 測(cè)量距離 | 具有距離補(bǔ)償功能,可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異行物品,變焦距離可達(dá)0-30mm |
對(duì)焦方式 | 高敏感鏡頭,手動(dòng)對(duì)焦 | 樣品臺(tái)移動(dòng) | 手動(dòng)無(wú)滑軌 |
其他附件 | 電腦一套,噴墨打印機(jī),附件箱,12元素片,電鍍液測(cè)量杯(選配)標(biāo)準(zhǔn)片(選配) |
丞普諾儀器(蘇州)有限公司一家從事精密檢測(cè)儀器設(shè)備的銷售,培訓(xùn),維修維護(hù),并提供配套應(yīng)用分析及實(shí)驗(yàn)室建構(gòu)方案的一家專屬公司。
膜厚儀的使用:
測(cè)定準(zhǔn)備
?。?)確保電池正負(fù)極方向正確無(wú)誤后設(shè)定。
?。?)探頭的選擇和設(shè)定:在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對(duì)準(zhǔn)測(cè)定對(duì)象,在本體上進(jìn)行設(shè)定。
測(cè)定方法
?。?)探頭的選擇和安裝方法:確認(rèn)電源處于OFF狀態(tài),與測(cè)定對(duì)象的質(zhì)地材質(zhì)接觸,安裝LEP-J或LHP-J。
?。?)調(diào)整:確認(rèn)測(cè)定對(duì)象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時(shí)要進(jìn)行調(diào)整。
?。?)測(cè)定:在探頭的末端加一定的負(fù)荷,即使用[一點(diǎn)接觸定壓式]。抓住與測(cè)定部接近的部分,迅速在與測(cè)定面成垂直的角度按下。下述的測(cè)定,每次都要從探頭的前端測(cè)定面開(kāi)始離開(kāi)10以上。使用管狀的東西連續(xù)測(cè)定平面時(shí),如果采用探頭適配器,可以更加穩(wěn)定地進(jìn)行測(cè)定。
膜厚儀采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可丈量,如航天表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可丈量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。
膜厚儀主要性能優(yōu)勢(shì):采用極速探測(cè)器技術(shù);探測(cè)信噪比更強(qiáng),檢出限更低;采用大功率X光管及的數(shù)字多道技術(shù);光閘系統(tǒng),提高測(cè)試效率與測(cè)試精度;精密的定位系統(tǒng),更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn);多點(diǎn)測(cè)試,多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試超小樣品檢測(cè);人性化的設(shè)計(jì):更安全、更快捷:預(yù)約預(yù)熱:預(yù)約關(guān)機(jī)。
膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測(cè)設(shè)備,它在平時(shí)的使用中對(duì)于度的要求很高,但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生,除了儀器本身的一些故障以外,環(huán)境因素也是造成誤差的“元兇",本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說(shuō)明:
1、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
3、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
4、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
5、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
6、試件的變形
測(cè)量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度,影響。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
8、磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
9、附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測(cè)量頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
10、測(cè)量頭壓力
測(cè)量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。
11、測(cè)量頭的取向
測(cè)量頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中,應(yīng)當(dāng)使測(cè)量頭與試樣表面保持垂直。
丞普諾儀器(蘇州)有限公司以誠(chéng)信、實(shí)力和質(zhì)量獲得業(yè)界的高度認(rèn)可,堅(jiān)持以客戶為核心,“質(zhì)量到位、服務(wù)"的經(jīng)營(yíng)理念為廣大客戶提供的服務(wù)。
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