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X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT230

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產品型號FT230

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更新時間：2023-03-17 13:16:25瀏覽次數：165次

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產品簡介

FT230的每一個部分都是為了準確測試，并大幅減少分析時間而設計的

詳細介紹

FT230的每一個部分都是為了準確測試，并大幅減少分析時間而設計的。

自動聚焦減少樣品裝載時間
Find My Part™ 自動進行智能識別以設置完整的測量程序
屏幕大部分區(qū)域用來顯示樣品視圖，提供了的可視度
自檢診斷程序確保了儀器的狀況和穩(wěn)定性
與其他軟件的無縫集成使其能夠輕松導出數據
采用了新的使用者界面，非專業(yè)人員也能直觀、方便地使用。
功能強大，可同時測量四層鍍層
經久耐用，在充滿考驗的生產或實驗室環(huán)境中使用壽命長
符合ASTM B568和DIN ISO 3497標準
幫助您滿足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸沒錫（IPC-4554）和浸沒銀（IPC-4553A）的規(guī)格要求

分析	詳細內容
X射線管	鎢(W)靶微焦點X射線管，自上向下照射式， 50 kV，1000μA，50 W
檢測器	高分辨率大面積50 mm2 SDD
初級濾波器	5個初級濾波器(2種鋁膜、鈦膜、鉬膜、鎳膜)+ 1個無濾波器
準直器	4個準直器，有長圓形和圓形兩種可供選擇，尺寸范圍為從0.01 x 0.25 mm到1 mm(0.5 x 10 mil到40 mil)
元素范圍	鋁(13)-鈾(92)
層數	最多5層 (4層加基底)
可選元素	自由選擇
大氣補償	自動溫度和壓力補償
環(huán)境	空氣
規(guī)范	能量色散X射線熒光測量鍍層符合ASTM B568、DIN ISO 3497

樣品定位	詳細內容
樣品尺寸	500 x 400 x 150 mm
樣品臺行程	250 x 200 mm
樣品臺尺寸	900 x 600 mm-電動樣品臺，開槽樣品室 270 x 210 mm-電動樣品臺，密閉樣品室 540 x 540 mm- 固定樣品臺
樣品臺速度(電動配置)	80mm/s
樣品臺精度(電動配置)	≤ 5 μm
樣品重量	10 kg - 固定樣品臺 5 kg - 電動樣品臺
z軸行程	205 mm
工作距離	5 mm- 標稱，聚焦激光器 5至67 mm-自動對焦/自動接近(可選)
樣品臺-Z軸控制	軟件控制和帶啟動按鈕的三向操縱桿(可選)
聚焦	7.1 x 5.3 mm
視野(廣角攝像機，可選)	250 x 200mm
定位輔助	雷射定位、預定位激光(電動樣品臺配置)

軟件	詳細內容
用戶接口	FT Connect
標準功能	鍍層分析(FP和經驗分析)、體相材料成分分析(FP和經驗分析)、多點程序設計、定性模式、數據歷史、診斷、ExTOPE云鏈接密碼保護、多級訪問控制軟件
智能識別功能	“查找我的零件”(機器視覺、二維碼/條形碼掃描、文本查找)、“查找我的模式”(機器視覺)
語言	簡體中文、繁體中文、捷克語、英語、法語、德語、意大利語、日語、韓語、葡萄牙語、俄語、西班牙語
PC規(guī)格	Windows 10 64位 PC

尺寸和工作環(huán)境	詳細內容
尺寸	600 x 815 x 745 mm- 密閉樣品室 900 x 931 x 745 mm- 開槽樣品室，電動樣品臺
重量(不含PC)	140kg
溫度范圍	10 - 40 °C
濕度范圍	相對濕度:90%(無冷凝)
供電要求	100-240 V±10% ; 47-63 Hz ; 1.5 A
信號塔(可選)	三層紅色/黃色/綠色指示燈(X射線打開/快門打開/儀器通電)

Au/NiP/Cu的典型性能	Au	NiP
測試范圍	0.051 - 0.09 μm (2.00 - 3.55 μin)	2.7 - 5.7 μm (106 - 225 μin)
標準誤差	0.025μm(1μin)或5%相對偏差，以較大者為準	0.025μm(1μin)或5%相對偏差，以較大者為準
30 s時的精度(2σ)，0.3 mm準直器	0.0025 μm @ 0.09 μm (0.099 μin @ 3.55 μin)	0.026 μm @ 5.7 μm，8 %P (1.02 μin @ 225 μin，8 %P)

Sn/Ni/Cu的典型性能	Sn	Ni
測試范圍	2.16 - 9.2 μm (85 - 362 μin)	0.97 - 15.1 μm (38 - 595 μin)
標準誤差	0.025μm(1μin)或5%相對偏差，以較大者為準	0.025μm(1μin)或5%相對偏差，以較大者為準
30 s時的精度(2σ)，0.3 mm準直器	0.014 μm @ 4.9 μm (0.55 μin @ 193 μin)	0.036 μm @ 4.7 μm (1.42 μin @ 185 μin)

FT230膜厚儀適合各種金屬鍍膜厚度量測

?連接器鍍層分析
?半導體應用分析
?PCB最終表面處理分析
?電鍍分析
?鍍鋅及涂鋅層分析
?CVD和PVD鍍層的分析

FT230并符合ASTM B568和DIN ISO 3497標準, 幫助您滿足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸沒錫（IPC-4554）和浸沒銀（IPC-4553A）的規(guī)格要求

關鍵詞：機器視覺