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BX-G103激光橢偏儀多入射角測(cè)量?jī)x

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更新時(shí)間：2023-03-03 17:50:58瀏覽次數(shù)：218次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

BX-G103系列是針對(duì)新穎研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對(duì)樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量?？捎糜跍y(cè)量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實(shí)時(shí)測(cè)量納米薄膜動(dòng)態(tài)生長(zhǎng)中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了納米薄膜的正規(guī)厚度測(cè)量。

詳細(xì)介紹

激光測(cè)量?jī)x 橢偏儀光源橢偏儀

產(chǎn)品用途：

BX-G103系列是針對(duì)研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對(duì)樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量?？捎糜跍y(cè)量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實(shí)時(shí)測(cè)量納米薄膜動(dòng)態(tài)生長(zhǎng)中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了納米薄膜的厚度測(cè)量。

儀器特點(diǎn)：

l 測(cè)量方法：Delta測(cè)量范圍0-360o，無(wú)測(cè)量死角問(wèn)題（即使在0o或180o附近時(shí)也具有的準(zhǔn)確度），也可消除粗糙表面引起的消偏振效應(yīng)對(duì)結(jié)果的影響

l 原子層量級(jí)的靈敏度和準(zhǔn)確度：新穎的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性

l 百毫秒量級(jí)的快速測(cè)量：在保證精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，可在幾百毫秒內(nèi)快速完成一次測(cè)量，可滿足快速多點(diǎn)檢測(cè)和批量檢測(cè)需求

l 方便的樣品對(duì)準(zhǔn)：視頻式自準(zhǔn)直樣品方位精密對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)，精度高、操作方便

l 簡(jiǎn)單方便的儀器操作：一鍵操作即可完成復(fù)雜的樣品測(cè)量和分析；按照質(zhì)控要求進(jìn)行數(shù)據(jù)多種導(dǎo)出；豐富的模型庫(kù)和材料庫(kù)方便用戶的操作；管理員/操作員不同的模式，保證儀器安全

技術(shù)參數(shù)：

激光測(cè)量?jī)x 橢偏儀光源橢偏儀