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深圳市鴻永精儀科技有限公司
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| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號JSM-7800F
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
聯(lián)系方式：吳波先生查看聯(lián)系方式
更新時間：2022-11-09 15:42:48瀏覽次數(shù)：286次
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低加速電壓下的觀察
利用JSM-7800F的GB模式，到達樣品的能量從10 eV開始就可以觀察。下面將到達樣品的能量設(shè)定為80 eV進行實例觀察：
一個碳原子厚度的石墨薄片的表面
樣品: 石墨烯 到達能量80eV
能量選擇
UED和USD能同時獲取背散射電子像(左圖)和二次電子像(右圖)，因此可以精確地解釋圖像。二次電子像主要反映形貌信息，金顆粒和TiO2的襯度沒有明顯不同，而背散射電子像中原子序數(shù)高的金顆粒則顯得明亮。
| 背散射電子像 | 二次電子像 |
| 樣品: 金負載型TiO2催化劑(2kV)g | |
利用GBSH觀察
利用GBSH對樣品施加高偏壓，像差將會減小，圖像的高分辨率會更高。能清楚地觀察到介孔二氧化硅里中的微孔(下圖)。
樣品：介孔二氧化硅 到達樣品的能量: 1keV
觀察磁性材料樣品
SHL物鏡能抑制磁場的泄漏，因此即便是磁性材料的樣品，也可以用極低的入射電子能量很容易地進行高分辨率觀察 。
樣品: 磁鐵礦納米顆粒 到達樣品的能量: 1keV
磁性樣品的EBSD測試
SHL沒有磁場泄漏的影響，也很適合于EBSD。象下圖所示那樣，通過反極圖能準確地確定晶體的取向。
| 分析點數(shù): 118585 尺寸: X: 80.00微米, Y : 79.89微米 步長: 0.25微米 相: Nd2Fe14B | 從樣品中獲得的EBSD花樣實例 ( 在任意點上獲取) |
| ND | TD | RD |
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