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蘇州恒測(cè)新材料有限公司
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更新時(shí)間：2023-05-04 21:58:58瀏覽次數(shù)：472次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
| 儀器照片 | 
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| 儀器名稱 | 場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡 |
| 儀器型號(hào) | 美國FEI Quanta 400 FEG |
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儀器簡(jiǎn)介 | Quanta FEG場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡綜合場(chǎng)發(fā)射電鏡高分辨和ESEM環(huán)境掃描電鏡適合樣品多樣性的優(yōu)勢(shì)，可對(duì)各種各樣的樣品（包括導(dǎo)電樣品、不導(dǎo)電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等）進(jìn)行高分辨的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)觀察和分析。 |
| 技術(shù)參數(shù) | ?MonoCL3+陰極熒光譜儀，波長(zhǎng)范圍160-930nm ?電子束感生電流（EBIC） ? STEM探測(cè)器 ? Apollo 40 SDD能譜儀 ? 液氮冷臺(tái)，溫度范圍為-185℃- +200℃ ? 液氦冷臺(tái)，溫度范圍為6K-300K |
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儀器功能 | ? 可在高真空、低真空（130Pa)、環(huán)境真空(4000Pa)下觀察導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品，對(duì)材料的表面和橫截面的微觀形貌、成分進(jìn) 行分析，廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、納米材料等領(lǐng)域； ? 配備的Apollo40 SDD能譜無需液氮制冷，可進(jìn)行快速的點(diǎn)、線、面分布分析，獲得能譜的mapping圖譜； ? 其樣品室直徑達(dá)284 mm，對(duì)于直徑達(dá)四英寸硅片可以直接進(jìn)行測(cè)試，無需對(duì)樣品進(jìn)行分割處理； |
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檢測(cè)案例一 （圖片） | 
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檢測(cè)案例二 （能譜） | |
| 樣品要求 | 建議提供文獻(xiàn)圖片或者以前做過的圖片，如果沒有，檢測(cè)要求需詳細(xì)填寫。可提供12張圖片：即篩選出三個(gè)比較好的區(qū)域，每個(gè)區(qū)域提供3-4張不同放大倍數(shù)滿足測(cè)試要求的圖片，對(duì)于找不到符合測(cè)試要求的區(qū)域的樣品，我們將會(huì)多拍一些區(qū)域以證明樣品的真實(shí)情況！寄送樣品質(zhì)量大于20mg。 |
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