掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界分辨率的測試系統(tǒng)。

我們的開爾文探針系統(tǒng)包括：
□   單點開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)；
□   掃描開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)；
□   超高真空(UHV)開爾文探針；
□   濕度控制的腐蝕開爾文探針；

主要特點：
● 功函分辨率< 3meV
● 掃描面積：5mm to 300mm（四種型號，每種型號掃描面積不同）
● 掃描分辨率：317.5nm
● 自動高度調(diào)節(jié)
應(yīng)用領(lǐng)域：
● 有機和非有機半導(dǎo)體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機光伏材料
● 腐蝕
升級附件：
● 空氣光發(fā)射系統(tǒng)
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm
● 相對濕度控制和氮氣環(huán)境箱