開爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導(dǎo)體材料的功函數(shù)(Work Function)或半導(dǎo)體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。
材料表面的功函數(shù)通常由最上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種的表面分析技術(shù)。

開爾文探針應(yīng)用范圍：
吸附，電池系統(tǒng)，生物學(xué)和生物技術(shù)，催化作用，電荷分析，涂層，腐蝕，沉積，偶極層形成，顯示技術(shù)，教育，光/熱散發(fā)，費米級掃描，燃料電池，離子化，MEMs，金屬，微電子，納米技術(shù)，Oleds，相轉(zhuǎn)變，感光染色，光伏譜學(xué)，高分子半導(dǎo)體，焦熱電，半導(dǎo)體，傳感器，皮膚，太陽能電池，表面污染，表面化學(xué)，表面光伏，表面勢，表面物理，薄膜，真空研究，功函數(shù)工程學(xué)；

我們的開爾文探針系統(tǒng)包括：
單點開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)；
掃描開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)；
超高真空(UHV)開爾文探針；
濕度控制的腐蝕開爾文探針；

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