廠家供應電渦流鍍層測厚儀原理分析原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

詳細介紹

廠家供應電渦流鍍層測厚儀原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

廠家供應電渦流鍍層測厚儀原理分析電渦流測量原理
高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關(guān)系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適

廠家供應電渦流鍍層測厚儀原理分析優(yōu)勢：

耐腐蝕性

驗證所用涂料的厚度和化學性，以確保在惡劣環(huán)境中的產(chǎn)品功能和壽命。小的緊固件或大組件都可輕松處理。

耐磨性

防止產(chǎn)品故障，確保在磨料環(huán)境中的關(guān)鍵部件的涂層厚度和均勻性。復雜的形狀，薄或厚的涂層和成品都可以測量。

精飾電鍍

當目標是實現(xiàn)一個*的電鍍時，整個生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制是至關(guān)重要的。牛津儀器全系列檢測設(shè)備，讓您放心檢驗基材，測試中間和頂部鍍層。

耐高溫

在的條件下操作的表面處理必須控制在嚴格的公差范圍內(nèi)。確保鍍層符合規(guī)格，避免產(chǎn)品召回和潛在的災難性故障。

廠家供應電渦流鍍層測厚儀原理分析運用領(lǐng)域行業(yè)：
電子行業(yè)
電子、電氣原件
有效控制生產(chǎn)過程，提高生產(chǎn)力
確保元件可靠性
同時測量焊料合金成份和鍍層厚度
優(yōu)化質(zhì)量控制，確保產(chǎn)品生命期

功能：

測量時，連續(xù)顯示/更新平均、標準偏差、讀數(shù)數(shù)目
內(nèi)存可存儲100組、10,000 個讀數(shù)
內(nèi)置時鐘可更新存儲數(shù)據(jù)，并給每個數(shù)據(jù)附上測量時間。
USB, IR 和系列輸出選項，可用于與打印機和電腦簡單連接。
背光顯示，可在黑暗環(huán)境中使用。
密耳和微米之間轉(zhuǎn)換
可選擇多種語言: 英語、西班牙語、法語、德語、葡萄牙語、中文、日語、挪威語、俄語、捷克斯洛法克語、意大利語

廠家供應電渦流鍍層測厚儀原理分析儀器參數(shù)

型號	MAXXI 5	MAXXI 5 PIN	備注
測量元素范圍	Ti²²---U⁹²
鍍層和成分分析	Ø 鍍層：zui多同時測定5層（4層鍍層+基體材料） Ø 成分：zui多同時測量20種元素
測量方法	Ø FP（經(jīng)驗數(shù)據(jù)法），無需標準樣片
X射線激發(fā)	Ø 50Kv、1.2mA(60W)高壓發(fā)生器 Ø 微聚焦W靶X射線管
成像系統(tǒng)	Ø 彩色視頻系統(tǒng) Ø 20倍放大倍數(shù) Ø 被測樣品圖像實時顯示功能 Ø 電腦顯示屏具有畫中畫功能
計算機系統(tǒng)	Ø Inter Pentium G2030，內(nèi)存2G，硬盤500G Ø 17吋液晶彩色顯示器 Ø Microsoft^TM Win7 32bit
樣品臺規(guī)格	Ø X-Y手動樣品臺：600×600mm，zui大承重25Kg，zui大樣品高度175mm或350mm可調(diào) Ø X-Y程控樣品臺：X-Y臺面尺寸300×250mm，zui大承重5Kg，zui大樣品高度180mm，程控距離X=300mm、Y=250mm
儀器外形	長×寬×高700×770×700mm（不含電腦、顯示器）
zui大樣品	Ø X-Y手動樣品臺：長×寬×高600×500×350mm Ø X-Y程控樣品臺：長×寬×高600×500×180mm
程控Z軸移動距離	≤180mm，可使用鼠標或手柄控制
主機重量	90Kg（不含電腦、顯示器）
準直器規(guī)格	Ø 可選單準直器、多準直器 Ø 多準直器程控交換 Ø 可選園形、矩形準直器 Ø 單準直器任選：Ø0.2、Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.3mm Ø 多準直器選項：①Ø0.2、0.06×0.06、0.05×0.15、0.1×0.2mm；②Ø0.1、Ø0.20、0.06×0.06、0.05×0.15mm	Ø 可選單準直器、多準直器 Ø 多準直器程控交換 Ø 可選園形、矩形準直器 Ø 單準直器任選：Ø0.3、Ø0.4、Ø0.5、0.2×0.5mm Ø 多準直器：Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.7、0.2×0.7mm
探測器	正比例計數(shù)器	25mm²半導體（Si-PIN）探測器，Peltier電制冷
軟件模塊可選	μ-Master用于鍍層測量 Element--Master用于材料分析 %-Master用于材料分析（珠寶） Report-Master用于微軟報告文件 Data-Master用于數(shù)據(jù)庫管理 Liquid-Master用于電鍍液分析
產(chǎn)地	德國