一，低溫撓卷試驗裝置標準：JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE
二，低溫撓卷試驗裝置說明：
導體斷面積100mm2以下之試料在本機內(nèi)冷卻1小時后，立即以均勻之速度卷繞于規(guī)定直徑之圓桿上。斷面積100mm2以上之試料，則先行卷繞，再冷卻相同之時間后，立即以反方向卷繞于圓桿上。取出試料，檢視其表面是否產(chǎn)生龜裂、裂痕。
三，低溫撓卷試驗裝置技術(shù)參數(shù)：
溫度 Temp. | 冷卻方式 Cooling method | 降溫速度 Cooling speed | 精度 Accuracy | 材質(zhì) Material | 圓桿 Rod | 內(nèi)箱 Test chamber | 線套 | 體積 Dimension (W×D×H) | 重量 Weight | 電源 Power |
-40～+130℃ | 氣冷式 Air Frozen | 常溫 Room temp. ～-40℃, 60min | ±2℃ | 內(nèi)外箱， SUS304# | Φ4.0～37.5mm，共12支 | 45×50×50cm | Φ3.5/6/ 10/12/ 16mm 各2只 | 100×80×135cm | 262kg | 1∮ AC 220V 30A |
環(huán)保在線