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Leitz Reference BX 高精度葉片與玻璃測量解決方案

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產(chǎn)品簡介

LeitzReferenceBX作為一個(gè)高速掃描解決方案，勝任一些具有行業(yè)特點(diǎn)的專業(yè)測量任務(wù)，例如各種渦輪葉片和風(fēng)扇葉片的非接觸式檢測或電子行業(yè)中智能手機(jī)玻璃的檢測

詳細(xì)介紹

Leitz Reference BX作為一個(gè)高速掃描解決方案，勝任一些具有行業(yè)特點(diǎn)的專業(yè)測量任務(wù)，例如各種渦輪葉片和風(fēng)扇葉片的非接觸式檢測或電子行業(yè)中智能手機(jī)玻璃的檢測。它的設(shè)計(jì)使其能在不影響測量精度的的情況下，以的效率來測量復(fù)雜形狀的工件。甚至可以測量傳統(tǒng)檢測方式無法駕馭的非常苛刻的材料，例如碳纖維，玻璃或陶瓷組件。

該系統(tǒng)集成了4軸聯(lián)動(dòng)掃描功能，非接觸式白光傳感器和傳感器自動(dòng)更換系統(tǒng)，同時(shí)該系統(tǒng)還可支持超高精度的接觸式傳感器來測量公差要求嚴(yán)苛或非接觸式難以接近的特征。

該機(jī)型主要有兩個(gè)應(yīng)用方向：葉片檢測和玻璃檢測。

由于配置了四軸掃描功能，使得Leitz Reference BX 坐標(biāo)測量機(jī) (CMM) 在一次測量任務(wù)中保證高精度的同時(shí)，可將潛在的測量時(shí)間縮短50%。測頭水平式安裝，對于葉片或者3D玻璃測量，不需要用戶以增加旋轉(zhuǎn)測座或者降低精度為代價(jià)，即可測量所有特征。

提升葉片檢測的效率
在一個(gè)檢測周期內(nèi)，接觸式測量和非接觸式測量各司其職，Precitec S3光學(xué)傳感器用于高速測量翼型，而HP-S-X1C固定掃描測頭用于精確檢查榫頭剖面。利用專業(yè)的葉片檢測模塊QUINDOS Blade可以簡化葉片前緣半徑、切線、葉型厚度、葉型、葉根和平均外弧線的測量，提高檢測效率。

透明材料厚度測量

屏幕設(shè)計(jì)和技術(shù)的快速發(fā)展增強(qiáng)了智能手機(jī)的用戶體驗(yàn)，但也對質(zhì)量控制提出了挑戰(zhàn)，傳統(tǒng)的2D影像測量方式已不能滿足帶有復(fù)雜曲面并且公差要求嚴(yán)格的3D玻璃檢測。Precitec S3共聚焦白光傳感器，可以輕松勝任此類傳統(tǒng)測量方式無法解決的測量任務(wù)，并且保護(hù)敏感表面免受接觸式測量引發(fā)的潛在劃傷風(fēng)險(xiǎn)。此外，白光技術(shù)可以用于評估材料厚度。利用QUINDOS軟件，測量結(jié)果可以顯示為點(diǎn)云、2D剖面或3D色差圖。

技術(shù)特點(diǎn)

?花崗石臺面，集成燕尾槽
?具備TRICISION™設(shè)計(jì)的精密三角梁，使其具有的剛性-質(zhì)量比，為機(jī)械框架提供優(yōu)異的穩(wěn)定性和精度表現(xiàn)
?傳感器使用水平安裝方式，便于工件立式測量
?三軸空氣軸承預(yù)應(yīng)力設(shè)置，保證機(jī)械框架穩(wěn)定性
?高分辨率光柵系統(tǒng)
?基于光柵系統(tǒng)和工件溫度，自動(dòng)進(jìn)行溫度補(bǔ)償，以彌補(bǔ)溫度變化帶來的精度變化
?Leitz Precitec S3 光學(xué)傳感器，其共聚焦白光技術(shù)非常適用于復(fù)雜幾何形狀和透明材質(zhì)的檢測，在保證精度的情況下，對效率提升明顯。另外，可以用于評估扁平和彎曲透明材料的厚度。
?HP-S-X1C固定式掃描測頭為系統(tǒng)提供了超高精度和出色的探測能力
?標(biāo)配SENMATION SX全自動(dòng)傳感器更換系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)Precitec S3和HP-S-X1C兩種測量模式自由切換
?集成內(nèi)置式轉(zhuǎn)臺，應(yīng)用四軸連續(xù)掃描技術(shù)，提高測量可達(dá)性和測量效率，檢測過程無需調(diào)整工件姿態(tài)和減少更換測針頻次，檢測時(shí)間大大縮短。
?配置主動(dòng)式氣浮減振系統(tǒng)

產(chǎn)品參數(shù)