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萬榮科信(北京)測控技術有限公司


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Marsurf 計算機式粗糙度輪廓測量儀

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質其他

所  在  地北京市

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更新時間:2025-05-07 11:08:38瀏覽次數(shù):83次

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產(chǎn)品簡介

MARSURFVD280粗糙度和輪廓測量站MarSurfVD系列-補充MarSurf系列:粗糙度和輪廓跟蹤系統(tǒng)之間方便更換操作員可根據(jù)測量任務更換測量表面粗糙度的BFW粗糙度測頭系統(tǒng),或測量輪廓的C11輪廓測頭系統(tǒng)(可熱插拔)

詳細介紹

MARSURF VD 280 粗糙度和輪廓測量站

MarSurf VD 系列 - 補充 MarSurf 系列:
粗糙度和輪廓跟蹤系統(tǒng)之間方便更換

操作員可根據(jù)測量任務更換測量表面粗糙度的 BFW 粗糙度測頭系統(tǒng),或測量輪廓的 C 11 輪廓測頭系統(tǒng)(可熱插拔)。新系統(tǒng)的優(yōu)勢是結合了高度靈活的 C 11 輪廓測頭系統(tǒng)和高精密 BFW 測頭系統(tǒng),特別適合精細表面。

新測量站概念綜合了速度、可靠性和靈活性。
其目標是提高貴公司系統(tǒng)的利潤。
測量站使用用戶友好的 MarWin 軟件操作(MarWin Easy Roughness & Contour 或 MarWin Professional Roughness & Contour)。

創(chuàng)新的技術:

快速測軸

  1. X 方向定位速度高達 200 mm/s
  2. 輪廓測量是前代 MarSurf PCV 或 MarSurf CD 120 速度的 25 倍
  3. 表面測量是 MarSurf GD 120 速度的 40 倍
  4. Z 軸默認有全部 CNC 功能
  5. Z 軸速度約是 Mahr 舊型號 Z 軸的兩倍
  6. 是市售標準 Z 軸的 5 倍
兩個參考測頭系統(tǒng)幫助您完成測量任務

輪廓測頭系統(tǒng) C 11
  1. 通過集成芯片識別測桿
  2. 標準測量范圍高達 70 mm;100 mm,490 mm 測桿長
  3. 磁性測桿支架,更換測桿無需工具。 
  4. 觸摸測頭耐用且靈活 
  5. 可選:可將粗糙度值測定擴展到輪廓

粗糙度測頭系統(tǒng) BFW
  1. 測桿更換簡單,通過磁性測桿支架保護測桿
  2. 借助測桿底板,無需工具或適配器即可將標準測量換成橫向測量
  3. 測頭系統(tǒng)可以擴展

創(chuàng)新的工件固定系統(tǒng)
  1. 安裝板 390 x 430 mm,孔尺寸 50 mm
  2. 集成 60 mm TY 調整
  3. 安裝板和集成 TY 調整的組合使您不再需要額外的 XY 工作臺
  4. 較低的工件設置有利于短測量循環(huán),這對測量結果有積極影響
  1. 技術數(shù)據(jù)
  MarSurf VD 280 MarSurf VD 140
測量速度 10 mm/s 10 mm/s
掃描長度末尾(X 方向) 280 mm 140 mm
掃描長度開始(X 方向) 0 mm 0 mm
導塊偏差 0.07 µm / 20 mm(帶測頭系統(tǒng) BFW 250)
0.35 µm / 60 mm
0.4 µm / 140 mm
0.07 µm / 20 mm(帶測頭系統(tǒng) BFW 250)
0.35 µm / 60 mm
0.4 µm / 140 mm
定位速度 0.02 - 200 mm/s (X) 0.02 - 200 mm/s (X)
測量范圍 mm 帶測頭系統(tǒng) BFW 250
500 µm (±250 µm),用于 45 mm 測針長度
1500 µm (±750 µm),用于 135 mm 測針長度

帶測頭系統(tǒng) C 11
70 mm,測桿長 350 mm
100 mm,測桿長 490 mm
帶測頭系統(tǒng) BFW 250
500 µm (±250 µm),用于 45 mm 測針長度
1500 µm (±750 µm),用于 135 mm 測針長度

帶測頭系統(tǒng) C 11
70 mm,測桿長 350 mm
100 mm,測桿長 490 mm

 
 
MARSURF UD 130 綜合性輪廓和表面測量站

MarSurf UD 130
MarSurf UD 130 通過兩個驅動單元解決方案 MarSurf LD 130 / LD 260 和新標準組合測量站 MarSurf VD 140 / 280 之間的空白。MarSurf UD 130 的技術規(guī)格是以高質量的干涉測頭系統(tǒng)為基礎,測量和定位速度快,可以減少每個工件的測量時間。
  1. 技術數(shù)據(jù)
測量速度 0.1 mm/s 至 5 mm/s;
用于粗糙度測量
建議 0.1 mm/s 至 0.5 mm/s
掃描長度末尾(X 方向) 130 mm
分辨率 2 nm
掃描長度開始(X 方向) 0.1 mm
定位速度 0.1 mm/s 至 30 mm/s
測頭 標準測頭 LP-D 14-10-2/60 度
測量范圍 mm 10 mm(100 mm 測桿)
20 mm(200 mm 測桿)
輪廓分辨率 2 nm
掃描長度 0.1 mm 至 130 mm
測量力 (N) 1 mN 至 30 mN,可軟件調整
 
 
MARSURF LD 130 綜合性輪廓和表面測量站

MarSurf LD 130 / LD 260。邁向新維度
Mahr 計量的技術實現(xiàn)一步完成輪廓和粗糙度測量。MarSurf LD 130 和 MarSurf LD 260 測量站在代設備經(jīng)驗的基礎上,又經(jīng)過系統(tǒng)化的設計。
  1. 一步完成粗糙度和輪廓測量
  2. 高測量和定位速度可大幅減少測量時間
  3. 刪除創(chuàng)新的測頭系統(tǒng)
  4. 快速可靠的測桿更換,磁性支架同步檢測測桿
  5. 長測量長度,高達 260 mm (MarSurf LD 260),測量行程 13 mm(100 mm 測桿長度)或 26 mm(200 mm 測桿長度)
  6. 模塊結構,方便維護
  7. 維護時無需拆卸測量立柱
  1. 技術數(shù)據(jù)
測量速度 0.02 mm/s 至 10 mm/s;
粗糙度測量
推薦 0.1 mm/s 至 0.5 mm/s
掃描長度末尾(X 方向) 130 mm
分辨率 0.8 nm
掃描長度開始(X 方向) 0.1 mm
定位速度 0.02 mm/s 至 200 mm/s
測量范圍 mm 13 mm(100 mm 測桿)
26 mm(200 mm 測桿)
掃描長度 0.1 mm - 130 mm
測量力 (N) 0.5 mN 至 30 mN,軟件可調

 

關鍵詞:芯片 工作臺

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