成都中冷低溫科技有限公司
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詳細(xì)摘要： HAST測(cè)試機(jī)HAST加速老化測(cè)試設(shè)備試驗(yàn)箱，HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： RF射頻芯片的HAST高加速老化測(cè)試 試驗(yàn)箱，HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題...
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詳細(xì)摘要： 日本愛(ài)思佩克Espec高加速老化HAST維修，成都中冷低溫科技有限公司是一家創(chuàng)新型高科技企業(yè)，擁有一支專業(yè)知識(shí)扎實(shí)、實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)豐富的年輕團(tuán)隊(duì)，主要成員來(lái)至于國(guó)內(nèi)外...
產(chǎn)品型號(hào)：不限型號(hào)所在地：成都市更新時(shí)間：2025-03-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、...
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詳細(xì)摘要： 芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用...
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詳細(xì)摘要： Small Burn in Test system芯片老化測(cè)試，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使...
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詳細(xì)摘要： 沖擊箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) PCB...
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詳細(xì)摘要： 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) 高低溫冷熱沖擊箱，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) ...
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詳細(xì)摘要： 沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) P...
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詳細(xì)摘要： ECM-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-03-19 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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