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偏光顯微熔點(diǎn)儀

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產(chǎn)品型號(hào)X-4P

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更新時(shí)間：2023-07-04 20:46:47瀏覽次數(shù)：188次

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北京測維光電儀器廠

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產(chǎn)品簡介

用途測定物質(zhì)的熔點(diǎn)

詳細(xì)介紹

用途

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。可對(duì)具有偏光特性的物鏡進(jìn)行熔點(diǎn)測定，主要用于液晶、藥物、化工、紡織、塑料粒子、染料、香料等晶體有機(jī)化合物的測定及顯微觀察。在醫(yī)學(xué)、化工、合成纖維、生物學(xué)、礦物學(xué)等領(lǐng)域均的應(yīng)用。

特點(diǎn):

*多用性既可作為微量樣品（毛細(xì)管法）的熔點(diǎn)測定，切片樣品的熔點(diǎn)測定，又可進(jìn)行生物工程的熱力學(xué)研究（載玻片—蓋玻片，熱臺(tái)法）；

*偏光裝置

*攝像通道 X-4P配置三目顯微觀察筒，選購顯微成像系統(tǒng)，可在不影響目視觀察的情況下，同時(shí)在電視機(jī)或顯示器上顯示圖像。

主要技術(shù)參數(shù)：

1.物鏡：4X、10X、20X

2.目鏡：WF10X/18mm

3.光學(xué)放大倍數(shù):40X、100X、200X

4.偏光裝置

5.顯微鏡頭部:三目頭部（方便與計(jì)算機(jī)或顯示器連接成像）

6.溫度顯示:最小示值0.1℃

7.熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃