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超聲波相控陣探傷儀OmniScan X3

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更新時(shí)間：2023-05-24 10:44:20瀏覽次數(shù)：255次

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類(lèi)型：超聲波相控陣探傷儀品牌：OLYMPUS型號(hào)：OMNISCANX3超聲波相控陣探傷儀OMNISCANX3提供全聚焦方式（TFM）功能的OmniScanX3相控陣探傷儀信心滿滿，昭然可見(jiàn)OmniScanX3探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱

詳細(xì)介紹

類(lèi)型：	超聲波相控陣探傷儀	品牌：	OLYMPUS
型號(hào)：	OMNISCAN X3

X3圖片4.png

超聲波相控陣探傷儀OMNISCAN X3

提供全聚焦方式（TFM）功能的OmniScan X3相控陣探傷儀

信心滿滿，昭然可見(jiàn)

OmniScan X3探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具，如：全聚焦方式（TFM）圖像和高級(jí)成像功能，可使用戶更加充滿信心地完成檢測(cè)。

的全聚焦方式（TFM）

更好的缺陷成像性能，可以更清晰地顯示微小的缺陷
可為早期的高溫氫致（HTHA）缺陷成像，
以在關(guān)鍵的早期探測(cè)到這種缺陷
機(jī)載聲學(xué)影響圖（AIM）的反射率模擬器有助于
以圖像方式顯示全聚焦方式（TFM）的靈敏度，還可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行調(diào)節(jié)
屏幕上多可顯示4種模式的全聚焦方式（TFM）圖像，有助于缺陷的解讀和定量

改進(jìn)的相控陣技術(shù)

脈沖重復(fù)頻率是OmniScan MX2探傷儀的3倍
單獨(dú)的衍射時(shí)差（TOFD）菜單，加快了工作流程
改進(jìn)的快速相控陣校準(zhǔn)，使用戶享有更輕松的操作體驗(yàn)
800%的高波幅范圍，減少了重新掃查的需要
機(jī)載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能，加速了創(chuàng)建設(shè)置的過(guò)程

迅速地投入到檢測(cè)工作中

機(jī)載掃查計(jì)劃、改進(jìn)的快速校準(zhǔn)和簡(jiǎn)化的用戶界面，有助于省去一些不必要的步驟，從而可使用戶在很短的時(shí)間內(nèi)完成檢測(cè)的設(shè)置工作。

如果您是OmniScan MX2儀器的用戶，您可以從現(xiàn)有的儀器迅速地過(guò)渡到OmniScan X3儀器。如果您還不太了解相控陣超聲檢測(cè)或全聚焦方式（TFM），您可以通過(guò)OmniScan X3探傷儀輕松地學(xué)習(xí)這些知識(shí)。

令人信賴

符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，防雨防塵
機(jī)載GPS，可提供采集數(shù)據(jù)的位置
可通過(guò)無(wú)線方式連接到奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng)，以下載新的軟件
得益于25 GB的文件容量，儀器可以無(wú)需停歇，持續(xù)掃查

檢測(cè)團(tuán)隊(duì)中的主力成員

OmniScan X3探傷儀所提供的功能有助于用戶高效地完成檢測(cè)工作。這些功能可以在以下應(yīng)用中大顯身手：焊縫檢測(cè)、管線和管道的檢測(cè)、合金的檢測(cè)、腐蝕成像、高溫氫致缺陷（HTHA）的檢測(cè)、初期裂紋的探測(cè)、復(fù)合材料的檢測(cè)和缺陷成像。

與現(xiàn)有的探頭和掃查器相兼容
32:128PR型號(hào)，提供64晶片的全聚焦方式（TFM）功能
還提供16:64PR和16:128PR型號(hào)
多8個(gè)聲束組，1024個(gè)聚焦法則
與OmniScan MX2/SX儀器的文件相兼容，方便了用戶轉(zhuǎn)換到新儀器的操作
64 GB的內(nèi)置存儲(chǔ)容量，還可以借助外置USB驅(qū)動(dòng)盤(pán)擴(kuò)展存儲(chǔ)容量

屏幕上多可顯示4種模式的全聚焦方式（TFM）圖像，有助于缺陷的解讀和定量

在同一個(gè)檢測(cè)中使用不同的全聚焦方式（TFM）模式（聲波組），使檢測(cè)人員更有希望探測(cè)到方向異常的缺陷指示。OmniScan X3探傷儀可以多同時(shí)顯示4種模式的全聚焦方式（TFM）圖像，從而使用戶看到從不同角度生成的圖像。來(lái)自每種模式的響應(yīng)和特征，如：端部衍射、圓角凹陷和缺陷剖面，可被綜合在一起進(jìn)行分析，從而可以確認(rèn)缺陷的類(lèi)型，并提高缺陷定量的性能。

提前確認(rèn)覆蓋區(qū)域

聲學(xué)影響圖（AIM）工具可以基于用戶的全聚焦方式（TFM）模式、探頭、設(shè)置和模擬反射體，即刻提供靈敏度的可視化模型。

聲學(xué)影響圖（AIM）工具消除了掃查計(jì)劃創(chuàng)建過(guò)程中的猜測(cè)因素，因?yàn)槠聊簧蠒?huì)顯示某個(gè)聲波組（TFM模式）的效果圖，使用戶看到靈敏度消失的位置，并對(duì)掃查計(jì)劃進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整。

關(guān)鍵詞：相控陣探傷儀探傷儀

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