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HM-1000日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀
| 參考價(jià): | ￥ 3000 |
| 訂貨量: | 1件 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- HM-1000 產(chǎn)品型號
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訪問次數(shù)：387更新時(shí)間：2024-11-07 14:45:22
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。
1.最多可檢測8層厚度。
2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。
3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出系統(tǒng)。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量
產(chǎn)品介紹
日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。
1.最多可檢測8層厚度。
2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。
3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出系統(tǒng)。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量
2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量
3.測量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測量
日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。
1.最多可檢測8層厚度。
2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。
3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出系統(tǒng)。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量
2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量
3.測量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測量
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。
1.最多可檢測8層厚度。
2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。
3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出系統(tǒng)。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量
2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量
3.測量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測量
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