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無(wú)錫馳和試驗(yàn)儀器有限公司
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所 在 地無(wú)錫市
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更新時(shí)間：2023-06-12 17:18:40瀏覽次數(shù)：191次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線大型步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱一、高低溫濕熱試驗(yàn)室概述高低溫濕熱試驗(yàn)室具有模擬大氣環(huán)境中溫度、濕度條件
一、高低溫濕熱試驗(yàn)室概述
高低溫濕熱試驗(yàn)室具有模擬大氣環(huán)境中溫度、濕度條件。主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其元器件，以及其它材料在高溫、濕度、低溫綜合環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。
二、高低溫濕熱試驗(yàn)室依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備》GB 5170.18-2005
《溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》GBT2423[1].34-2005
《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GBT 10586-2006
《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 11158-2008
《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 10589-2006
《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 10592-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A: 低溫》GBT 2423.1-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》GBT 2423.2-2008
※ 此高低溫濕熱試驗(yàn)室可根據(jù)實(shí)際負(fù)載、熱量、溫度變化速率為客戶進(jìn)行專門優(yōu)化設(shè)計(jì)。
二、高低溫濕熱試驗(yàn)室主要技術(shù)參數(shù)
※馳和試驗(yàn)高低溫濕熱試驗(yàn)室主要技術(shù)指標(biāo)均在環(huán)境溫度為+25℃時(shí)、無(wú)試樣條件下測(cè)得的數(shù)據(jù)。
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