QQ交談MTU-3磁粉檢測試塊（I型磁粉參考試塊）
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- 上海魯碩實業(yè)有限公司
- 2016-08-25 10:02:43
- 上海市
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【簡單介紹】
【詳細說明】
磁粉參考試塊（I型磁粉試塊）
本品為我司開發(fā)的探傷磁粉使用參考試塊,按GB/T15822.2-2005及ISO9934-2:2002標準要求進行加工生產而成。本試塊是用于確認磁化方向和磁化強度的磁粉參考試塊。可廣泛應用于磁粉探傷時,對磁粉或磁懸液的性能及靈敏度檢驗。
使用時無需進行磁化,只要將熒光磁粉或熒光磁懸液直接噴灑在MT-I型試塊上,在紫外線燈的照射下即可得到清晰地顯示。如果用于檢驗非熒光磁粉和非熒光磁懸液時,在試塊上噴灑薄薄一層的FA-5型反差增強劑,這樣顯示的痕跡非常清晰。
本試塊表面的缺陷分為兩種：猝火裂紋和磨消裂紋。本試塊的材料：90MnCrV8，表面硬度：63HRC~70HRC。磁化方式1000A直流電中心導體充磁。符合標準：GB/T15822.2-2005及ISO9934-2:2
使用方法：
1、本試塊裝入鋁合金盒中,請不要敲擊和跌落,以免影響缺陷的顯示痕跡。
2、使用熒光磁粉探傷時,只要將熒光磁粉或熒光磁懸液直接噴灑在試塊的任何一面均可。在紫外線燈的照射下觀察痕跡顯示。
3、使用費熒光磁粉探傷時,在MT-I型試塊上噴涂反差增強劑,然后將非熒光磁粉或熒光磁懸液直接噴灑在試塊上。可直接在白光照射下觀察痕跡顯示。
4、使用完畢后,務必將試塊用水或溶液清洗干凈并干燥。
放置時請遠離磁場或導磁材料,以免影響試塊的靈敏度。
該參考試塊是表面帶有自然裂紋的圓塊，它包含由磨削和應力腐蝕所產生的粗線條裂紋和細線條裂紋。試塊采用穿孔中心導體*磁化。用目視或其他方法來評定檢測介質。
技術參數：
試塊材料：90MnCrV8
表面硬度：63HRC~70HRC
磁化方式：1000A直流電中心導體充磁
符合標準：GB/T15822.2-2005及ISO9934-2:2002
產品關鍵字：MTU-3磁粉檢測試塊 I型磁粉參考試塊
