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非接觸式單點(diǎn)金屬測(cè)厚儀EddyCus TF lab 2020MT

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非接觸式單點(diǎn)金屬測(cè)厚儀EddyCusTFlab2020MT產(chǎn)品簡(jiǎn)介EddyCusTFlab2020MT允許對(duì)透明和非透明層進(jìn)行非接觸式金屬厚度測(cè)量

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非接觸式單點(diǎn)金屬測(cè)厚儀EddyCus TF lab 2020MT

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

EddyCus® TF lab 2020MT 允許對(duì)透明和非透明層進(jìn)行非接觸式金屬厚度測(cè)量。使用非接觸式渦流傳感器進(jìn)行測(cè)量。它實(shí)時(shí)確定具有已知或（相當(dāng)）恒定電導(dǎo)率的材料的金屬厚度。這種非接觸式測(cè)試技術(shù)可以在很寬的厚度范圍內(nèi)進(jìn)行精確測(cè)量，從幾納米厚度開始，一直到厚金屬片材和板材的表征。該技術(shù)還能夠表征被非導(dǎo)電材料覆蓋的金屬層。 SURAGUS 為非常薄的層以及非常厚的金屬和普通合金提供材料特定的設(shè)置。該測(cè)量方法非常穩(wěn)健，具有高重復(fù)性和高精度。此外，它不需要任何光學(xué)透明度，也不需要物理接觸。因此，它用于快速測(cè)試或系統(tǒng)質(zhì)量保證的廣泛應(yīng)用。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

軟件和設(shè)備控制

非常人性化的軟件
直觀的觸摸顯示屏導(dǎo)航
實(shí)時(shí)測(cè)量薄層電阻和層厚
軟件輔助手動(dòng)映射選項(xiàng)
各種數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出選項(xiàng)

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量技術(shù)	非接觸式渦流傳感器
基質(zhì)	箔、玻璃、晶片等。
基底面積	8英寸/ 204毫米x 204毫米(三面開口)
大值樣品厚度/傳感器間隙	3 / 5 / 10 / 25毫米(由厚的樣品確定)
金屬厚度范圍精度取決于所選的設(shè)置和類型/ 金屬的導(dǎo)電性(例如銅、鋁、銀)	低1–10納米；2–5%的精確度標(biāo)準(zhǔn)10-1000納米；1–3%的精確度高1–100米；0.5–3%的精度
金屬厚度校準(zhǔn)	直接厚度校準(zhǔn)/薄層電阻轉(zhuǎn)換
設(shè)備尺寸(寬高比)	11.4英寸x 5.5英寸x 17.5英寸/ 290毫米x 140毫米x 445毫米
重量	10公斤
其他可用功能/其他工具配置	薄層電阻測(cè)量/電導(dǎo)率/電阻率/電各向異性/滲透率(β)