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ZETA Zeta-300光學輪廓儀

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更新時間：2022-12-27 17:38:36瀏覽次數(shù)：386次

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產(chǎn)品簡介

澤塔Zeta-300光學輪廓儀基礎(chǔ)信息型號：Zeta-300產(chǎn)品：光學輪廓儀/表面輪廓測試系統(tǒng)品牌：Zeta澤塔簡介：的3D成像及測試系統(tǒng)（為用戶量身打造的表面輪廓測量設(shè)備

詳細介紹

澤塔Zeta-300光學輪廓儀基礎(chǔ)信息

型號：Zeta-300

產(chǎn)品：光學輪廓儀/表面輪廓測試系統(tǒng)

品牌：Zeta澤塔

簡介：的3D成像及測試系統(tǒng)（為用戶量身打造的表面輪廓測量設(shè)備，是表面量測領(lǐng)域的）

澤塔Zeta-300光學輪廓儀簡述

最的3D成像及測試系統(tǒng)（為用戶量身打造的表面輪廓測量設(shè)備，是表面量測領(lǐng)域的）Zeta3D光學輪廓儀可以對近乎所有材料和結(jié)構(gòu)的樣品進行測試,從低反射率高粗糙度的太陽能電池片到高精密拋光的磁盤介質(zhì)，甚至包括高縱橫比結(jié)構(gòu)的微機械部件和多層結(jié)構(gòu)的微流體其器件。Zeta強大的研發(fā)能力還提供特種應(yīng)用的設(shè)備定制服務(wù)，精密的光學測試系統(tǒng)和靈活自動的測試軟件包讓用戶的測試工作變得更加靈活簡單。

澤塔Zeta-300光學輪廓儀特點

多功能光學測試模組

·Zeta-300測試系統(tǒng)提供多種光學測試技術(shù)，滿足用戶各種領(lǐng)域的測試需求：

·ZdotTMZ點陣3維成像技術(shù)，是Zeta所有系列產(chǎn)品的標配技術(shù)

·ZIC干涉反襯成像技術(shù)，實現(xiàn)亞納米級粗糙度表面的成像及量化分析

·ZSI白光差分干涉技術(shù)，搭配任意物鏡實現(xiàn)Z方向超高分辨率的測量能力

·Zx5白光干涉技術(shù)。保證Z方向高分辨率測量的同時，提供大視野范圍內(nèi)的測量和統(tǒng)計分析

測試速度快

1分鐘內(nèi)完成所有類型樣品的3D掃描成像及統(tǒng)計分析，其超高的分辨能力甚至可以對納米級的缺陷進行成像。

操作簡單

自動化測試程序，一鍵式操作過程，測試菜單設(shè)置簡單，30分鐘培訓速成，結(jié)果輸出直觀。

功能強大