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更新時(shí)間：2023-02-14 12:32:52瀏覽次數(shù)：144次
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一次掃描檢查隱藏結(jié)構(gòu)ZEISSMETROTOM1 借助易于使用的ZEISSMETROTOM1的蔡司工業(yè)CT技術(shù)，只需一次掃描，任何人都能有效完成復(fù)雜的測(cè)量和檢查任務(wù)
一次掃描檢查隱藏結(jié)構(gòu)ZEISS METROTOM 1
借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工業(yè)CT技術(shù)，只需一次掃描，任何人都能有效完成復(fù)雜的測(cè)量和檢查任務(wù)。測(cè)量并檢測(cè)接觸式或光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)無(wú)法檢測(cè)到的隱藏缺陷和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。另一個(gè)巧妙之處在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于體積小，CT掃描系統(tǒng)很容易便能放置于您的測(cè)量實(shí)驗(yàn)室之中，可以一次性完成內(nèi)部測(cè)量和檢查。
一個(gè)CT系統(tǒng)，兼具多種優(yōu)勢(shì)
ZEISS METROTOM 1使用工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)，是升級(jí)您的質(zhì)量檢查產(chǎn)品組合的理想設(shè)備。CT系統(tǒng)擁有許多優(yōu)勢(shì)：
操作簡(jiǎn)便
ZEISS METROTOM 1是以用戶為基礎(chǔ)建造的。安裝過(guò)程簡(jiǎn)單，只需進(jìn)行少量培訓(xùn)就能使用CT。只需輕輕一點(diǎn)，即可開(kāi)始掃描流程!
精準(zhǔn)的測(cè)量
小而：您可以使用ZEISS Metrotom 1測(cè)量并評(píng)估完整的零件。這樣，您可以信賴您的測(cè)量，進(jìn)行準(zhǔn)確的數(shù)模比對(duì)、尺寸檢查和壁厚分析。
占地面積小
蔡司METROTOM 1非常緊湊。尺寸為1750 mm(長(zhǎng)) x 1820 mm(高) x 870 mm(寬)。這意味著CT系統(tǒng)適合任何測(cè)量實(shí)驗(yàn)室——可以讓您在公司內(nèi)部進(jìn)行測(cè)量和質(zhì)量保證，而無(wú)需外部測(cè)量服務(wù)。
投資回報(bào)快
購(gòu)置成本低，且得益于合宜的系統(tǒng)維護(hù)保養(yǎng)費(fèi)用，您的設(shè)備持有將變得物超所值：ZEISS METROTOM 1的射線管無(wú)需維護(hù)保養(yǎng)。
ZEISS METROTOM 1——緊湊而可靠
的CT技術(shù)，用于所有測(cè)量實(shí)驗(yàn)室
蔡司是CT技術(shù)領(lǐng)域的專家，十多年以來(lái)，其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系統(tǒng)。蔡司計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)METROTOM 1現(xiàn)在為每個(gè)人都提供了可靠的X射線技術(shù)和無(wú)損質(zhì)量保證。
測(cè)量完整組件、 確保零件無(wú)瑕疵
使用ZEISS METROTOM 1，您可以在您的測(cè)量實(shí)驗(yàn)室里輕松檢測(cè)出工件的隱藏缺陷。無(wú)論是中型還是小型零件，是塑料還是輕金屬材質(zhì) - 使用ZEISS METROTOM 1，您可以檢查各種零件，如連接器、塑料蓋、鋁制零件等等。
GOM Volume Inspect
全面的3D CT數(shù)據(jù)分析
ZEISS METROTOM 1配有操作和檢測(cè)軟件GOM Volume Inspect(體積檢測(cè))。軟件適合初學(xué)者使用，結(jié)合了CT流程的所有階段——從掃描設(shè)置和重建，到數(shù)據(jù)評(píng)估和報(bào)告。軟件可以精準(zhǔn)地評(píng)估幾何形狀、孔隙或內(nèi)部結(jié)構(gòu)和裝配情況。即使是超小的缺陷也可以通過(guò)單個(gè)截面圖像看到，并且可以使用多種標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)進(jìn)行評(píng)估。只需一個(gè)軟件，您就可以將幾個(gè)組件的體積數(shù)據(jù)加載到項(xiàng)目中，執(zhí)行趨勢(shì)分析，并將采集到的3D數(shù)據(jù)與CAD模型進(jìn)行比較等等。
應(yīng)用領(lǐng)域：
無(wú)損檢測(cè)、一次掃描多個(gè)工件。
檢查特點(diǎn)：
測(cè)量?jī)?nèi)部和外部結(jié)構(gòu)、檢查內(nèi)部缺陷(如縮孔)。
| X射線源 | 160 kV |
| X射線探測(cè)器 | 2.5 k |
| 測(cè)量容積 | 165 x 140 mm |
| 測(cè)量規(guī)格(MPE SD) | < 5=""> |
| 尺寸 | 1750 mm（寬） x 1820 mm（高） x 870 mm（厚） |
| 重量 | 2100 kg |
| 軟件 | GOM Volume Inspect體積檢測(cè)（已包含） |
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