納米粒度儀

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更新時間：2022-11-28 15:34:04瀏覽次數(shù)：306次

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上海譜束科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

SZ-100V2納米顆粒分析儀是準確測量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測定；還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)

詳細介紹

SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準確測量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測定；還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。

主要特點

· 同臺儀器可測三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)

· 寬檢測范圍，寬濃度范圍——樣品濃度可達40%

· 自動滴定儀——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

· 軟件操作簡單功能強大，一鍵測量

· 雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）

· 采用微量樣品池

規(guī)格參數(shù)

粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）

粒徑測定范圍：0.3nm ～10μm

粒徑測量精度：±2%（NIST 可溯源標準粒子100nm）

Zeta 電位測量原理：激光多普勒電泳法