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德國卡爾KARL LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀

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更新時(shí)間：2022-08-03 13:42:16瀏覽次數(shù)：1093次

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常州銳品精密儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡單的操作方法，是*的涂層測(cè)厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。

詳細(xì)介紹

德國卡爾KARL LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹

可定制帶系統(tǒng)的涂層測(cè)厚

涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。

儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。

涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。

3種配置級(jí)別以更好的完成測(cè)量人任

LEPTOSKOP 2042 有3種配置級(jí)別：基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征；高級(jí)型 - 附加統(tǒng)計(jì)評(píng)估；專業(yè)型 - 統(tǒng)計(jì)評(píng)估和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

如果針對(duì)新的測(cè)量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時(shí)候把儀器升級(jí)為高級(jí)型和/或?qū)I(yè)型。升級(jí)只需在現(xiàn)場(chǎng)輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)”，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機(jī)器。

探頭類		測(cè)量方法	測(cè)量范圍	訂貨號(hào)
	標(biāo)準(zhǔn)探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測(cè)量的地方	Fe	0 - 3000 祄	2442.100
標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe 0?/font>		NFe	0 - 1000 祄	2442.130
標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe S 0?/font>		NFe	0 - 3750 祄	2442.140
標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe S 0?br>用于測(cè)量表面有寬闊的涂層厚度		Fe	0.5 - 20 mm	2442.120
標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe 90?br>用于測(cè)量難接近的部位，例如：管子的內(nèi)部		Fe	0 - 3000 祄	2442.110
雙晶探頭用于測(cè)量表面有寬闊的涂層例如：管子的內(nèi)部涂層.		Fe	0.5 - 12.5 mm	2442.200
微型探頭0?用于測(cè)量小尺寸和難接近的部位例如：鉆孔的底部		FeNFe	0 - 500 祄	2442.300 2442.310
微型探頭 45?用于測(cè)量小尺寸和難接近的部位		FeNFe	0 - 500 祄	2442.320 2442.330
微型探頭 90?用于測(cè)量小尺寸和難接近的部位例如：管子的內(nèi)壁和鉆孔		FeNFe	0 - 500 祄	2442.340 2442.350
注：點(diǎn)擊單獨(dú)的探頭圖片，可以得到更多詳細(xì)信息

	數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或　USB
	電源：電池、充電電池、USB或外接電源
	測(cè)量范圍: 0 - 20000 um （取決于探頭）
	測(cè)量速度:　每秒測(cè)量２個(gè)數(shù)值
	存儲(chǔ): zui多 9999 個(gè)數(shù)值，140個(gè)文件
	誤差: 涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄（校準(zhǔn)后）涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄涂層厚度　> 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄