顆粒分析儀采用動態(tài)光散射原理（DLS）。根據樣品的物理性質，動態(tài)測量范圍為0.3 nm – 10 µm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響：樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響，因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。
SZ-100V2 以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池，通過顆粒電泳遷移率的結果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個指標。Zeta電位的數值較大表明顆粒帶電較多，斥力較大，較難發(fā)生團聚，溶液保持穩(wěn)定。通常根據pH值或其他化學參數的改變檢測zeta電位以便于設計可長時間保存的產品。相反地，發(fā)現zeta電位為零時（就是說，樣品處于等電點），就要考慮選擇條件將顆粒進行絮凝和分離。
SZ-100V2 還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。用戶準備幾個已知濃度的溶液，然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線，從而計算出Mw和A2。
特征
將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數的檢測集于一身
寬檢測范圍，寬濃度范圍
雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）
多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光
用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池
自動滴定儀：可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定
SZ-100V2納米粒度儀樣本
