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供應(yīng)/回收 Agilent 4155C半導體器件分析儀4155C 何：

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更新時間：2025-04-17 11:37:35瀏覽次數(shù)：60次

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產(chǎn)品簡介

供應(yīng)/回收Agilent4155C半導體器件分析儀4155C何：大量回收半導體器件分析儀（Agilent/HPB1500AHPB1505A,Agilent4155C,Agilent4156C）詳細資料：4155c半導體參數(shù)分析儀4155c半導體測試儀是agilent下一代精密半導體測試儀

詳細介紹

供應(yīng)/回收 Agilent 4155C半導體器件分析儀4155C 何：

大量回收半導體器件分析儀（Agilent/HP B1500A HPB1505A,Agilent 4155C,Agilent 4156C）

詳細資料：

4155c 半導體參數(shù)分析儀
4155c半導體測試儀是agilent下一代精密半導體測試儀。4155c是描述上等器件的低成本、實驗室級的參數(shù)測試儀。4155c低的流、壓精度和內(nèi)置的準靜態(tài)cv測量能力提供了未來擴展的基礎(chǔ)。41501b可擴展測量能力到1a/200v，還可以在4155c上增加低的噪聲雙脈沖發(fā)生器。 4155c提供了基于pc的參數(shù)分析和表征全套方案的環(huán)境。標準配置包括一個參數(shù)分析儀，agilent i/cv 3.0 lite 自動測試軟件，運行windows xp 操作系統(tǒng)的pc。i/cv 3.0 lite 提供一個圖形用戶界面，具有強大的分析工具，探針驅(qū)動和自動測試工具。
特性
· 4155c提供4個內(nèi)置的源/監(jiān)控單元（mpsmus），兩個壓源單元（vsus）和兩個壓監(jiān)控單元（ vmus） · 10 fa 和0.2 uv的測試精度可滿足開發(fā)新的工藝技術(shù)和評價材料 · performs quasi-static capacitance measurements versus voltage measurements · 完成準靜態(tài)的容對壓測量 · 自動提取程序參數(shù)而不需要人工操作屏幕光標 · 用超低的smus測量泄漏特性。 · 用集成的脈沖發(fā)生器和選擇開關(guān)自動完成器件表征。 · 用內(nèi)置的應(yīng)力測量模式完成晶片的可靠性測試 · 用圖形用戶界面實現(xiàn)“點擊”測試 · windows環(huán)境提供圖形數(shù)據(jù)分析能力 · 旋鈕掃描功能可以快速檢驗探針是否接觸正常。 · 待機模式消除外部源的需要 · 觸發(fā)模式可以同步ac/dc測試 · ibasic 用戶功能可以繪圖和分析數(shù)據(jù)

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