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LCM50 射頻導(dǎo)納物位計(jì)

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品概述射頻導(dǎo)納物位計(jì)是基于射頻導(dǎo)納原理的連續(xù)物位測量產(chǎn)品

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品概述

射頻導(dǎo)納物位計(jì)是基于射頻導(dǎo)納原理的連續(xù)物位測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品具有穩(wěn)定性高、靈敏度高、應(yīng)用場合廣泛等優(yōu)點(diǎn)。相比傳統(tǒng)的電容式物位計(jì)，采用模塊化設(shè)計(jì)，能夠簡潔方便地實(shí)現(xiàn)儀表設(shè)定，一旦設(shè)定完成，即可正常使用并且終身免維護(hù)。使用戶能夠直觀地了解設(shè)備運(yùn)行情況，并及時(shí)處理出現(xiàn)的問題，在復(fù)雜的工業(yè)場合也一樣安全可靠。

測量原理

傳統(tǒng)的電容式物位計(jì)，隨著物位上漲、物料覆蓋探頭，電路中探頭和介質(zhì)之間的電容值（導(dǎo)電物料場合）或者探頭和管壁之間的電容值（絕緣物料場合）隨之增加。由于物位的變化導(dǎo)致了電容橋的失衡，所以電容值的變化取決于被測物料的介電常數(shù)。然后通過對(duì)信號(hào)的檢波、放大，最后輸出相應(yīng)的信號(hào)。然而，電容式物位儀表有一些缺點(diǎn)，特別是當(dāng)探頭有掛料的時(shí)候會(huì)嚴(yán)重影響測量結(jié)果。

射頻導(dǎo)納測量技術(shù)是具有優(yōu)勢的物位測量技術(shù)。雖然跟一般的電容式測量技術(shù)的概念很相似，但是射頻導(dǎo)納技術(shù)在電子單元中加入了Driving-Shield電路和斬波電路，因此能夠?qū)崿F(xiàn)阻抗和容抗的單獨(dú)測量。通過物理定律計(jì)算可得，任何掛料的阻抗和容抗的大小是相等的，所以由掛料產(chǎn)生的影響能夠被測量出來并且通過振蕩電路的移相，從總的輸出中消除。

射頻導(dǎo)納物位計(jì)的探頭安裝在儲(chǔ)料罐中，通過探頭獲得物位變化引起的射頻信號(hào)的變化。探頭的Driving-Shield端能夠阻止射頻電流通過掛料形成回路，保證了儀表測量的準(zhǔn)確性。

通過移相消除掛料所引起的電流誤差帶Driving-Shield探頭的射頻導(dǎo)納探頭

射頻導(dǎo)納技術(shù)測量結(jié)果精度高，并且不受探頭掛料的影響，是目前使用場合泛的一種測量技術(shù)。從低溫-100℃到高溫800℃、從真空到6.3MPa強(qiáng)壓場合、從超短量程到120米超大量程，都能夠正常應(yīng)用，并且能夠應(yīng)用于不同類型的物料。

設(shè)計(jì)特點(diǎn)

抗掛料：的Driving-Shield電路設(shè)計(jì)提高了抗掛料能力
供電范圍：電源工作區(qū)間：13～35VDC
適應(yīng)性：探頭過程溫度：-100℃～800℃
無死區(qū)測量，可以應(yīng)用到十幾公分甚至幾公分的物位測量場合大量程
測量量程可達(dá)上百米，甚至幾百米
粘稠性物料界面測量是該儀表的巨大優(yōu)勢
穩(wěn)定性：穩(wěn)定可靠的輸出，耐飛灰、落料、水汽、結(jié)晶、結(jié)蠟影響
免維護(hù)：無活動(dòng)、無易磨損部件，無需經(jīng)常清潔、保養(yǎng)、調(diào)試