射頻導納物位計

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更新時間：2022-09-29 14:35:26瀏覽次數(shù)：149次

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產(chǎn)品簡介

HY-SD700射頻導納物位計廣泛適用各行業(yè)中液體、顆粒和塊狀物料倉料位的連續(xù)測量。適用于在高溫、高壓力、強腐蝕、強粘附、強沖擊、強磨損、粉塵大的環(huán)境下進行測量，有其它類型

詳細介紹

概述

HY-SD700射頻導納物位計廣泛適用各行業(yè)中液體、顆粒和塊狀物料倉料位的連續(xù)測量。適用于在高溫、高壓力、強腐蝕、強粘附、強沖擊、強磨損、粉塵大的環(huán)境下進行測量，有其它類型的物位計的性價比。產(chǎn)品應用于工礦現(xiàn)場，適用于大多數(shù)應用場合，儀表由一個電路單元一套防爆外殼和桿式或纜式傳感元件組成，傳感器有多種型號可選，儀表可選整體或分體安裝。

工作原理

射頻導納物位計是一種從電容式發(fā)展起來的、防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的新型物位控制技術(shù)，是電容式物位技術(shù)的升級。所謂射頻導納，導納的含義為電學中阻抗的倒數(shù)，它由電阻性成分、電容性成分、感性成分綜合而成，而射頻即高頻無線電波譜，所以射頻導納可以理解為用高頻無線電波測量導納。儀表工作時，儀表的傳感器與灌壁及被測介質(zhì)形成導納值，物位變化時，導納值相應變化，電路單元將測量導納值轉(zhuǎn)換成物位信號輸出，實現(xiàn)物位測量。

對于連續(xù)測量，射頻導納技術(shù)與傳統(tǒng)電容技術(shù)的區(qū)別除了上述講過的以外，還增加了兩個很重要的電路，這是根據(jù)導電掛料實踐中的一個很重要的發(fā)現(xiàn)改進而成的。上述技術(shù)在這時同樣解決了連接電纜問題，也解決了垂直安裝的傳感器根部掛料問題。鎖增加的兩個電路是振蕩器緩沖器和交流變換斬波器驅(qū)動器。

對一個強導電性被測介質(zhì)的容器，由于被測介質(zhì)是導電的，接地點可以被認為在探頭絕緣層的表面，對變送器來說僅表現(xiàn)為一個純電容。隨著容器排料，探桿上產(chǎn)生掛料，而掛料是具有阻抗的。這樣以前的純電容現(xiàn)在變成了由電容和電阻組成的復阻抗，從而引起兩個問題。

個問題是液位本身對探頭相當于一個電容，它不消耗變送器的能量，（純電容不耗能）。但掛料對探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下來，導致橋路輸出改變，產(chǎn)生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個緩沖放大器，使消耗的能量得到補充，因而不會降低加在探頭的振蕩電壓。

第二個問題是對于導電被測介質(zhì)，探頭絕緣層表面的接地點覆蓋了整個被測介質(zhì)及掛料區(qū)，使有效測量電容擴展到掛料的頂端。這樣便產(chǎn)生掛料誤差，且導電性越強誤差越大。但任何被測介質(zhì)都不是導電的。從電學角度來看，掛料層相當于一個電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當于一條由無數(shù)個無窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線。根據(jù)數(shù)學理論，如果掛料足夠長，則掛料的電容和電阻部分的阻抗相等。因此根據(jù)對掛料阻抗所產(chǎn)生的誤差研究，又增加一個交流驅(qū)動器電路。該電路與交流變換器或同步檢測器一起就可以分別測量電容和電阻。由于掛料的阻抗和容抗相等，則測得的總電容相當于C+C掛料，再減去與C 掛料相等的電阻R，就可以實際測量真實值，從而排除掛料的影響。

即C測量=C+C掛料

C=C測量—C掛料

=C測量— R

這些，多參量的測量，是必須得基礎(chǔ)，交流鑒相采樣器是實現(xiàn)的手段。由于使用了上述三項技術(shù)，使得射頻導納技術(shù)在現(xiàn)場應用中展現(xiàn)出非凡的生命力。

產(chǎn)品特點

標定簡單: 可利用任意二點倉高一次性自動完成標定。

通用性強：可測量液位及料位，可滿足不同溫度、壓力、介質(zhì)的測量要求，并可應用于腐蝕、沖擊等惡劣場合。

防掛料：的電路設(shè)計和傳感器結(jié)構(gòu)，使其測量可以不受傳感器掛料影響，無需定期清潔，避免誤測量。

免維護：測量過程無可動部件，不存在機械部件損壞問題，無須維護。

抗干擾：接觸式測量，抗力強，可克服蒸汽、泡沫及攪拌對測量的影響。

應用廣泛: 液態(tài)、固態(tài)、界面混和物、物料均可使用。

無漂移: 不會因為介質(zhì)的溫度或密度變化產(chǎn)生漂移。