污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過(guò)濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲(chǔ)水/集水/排水/輔助 水處理膜 過(guò)濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
丞普諾儀器(蘇州)有限公司
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地蘇州市
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更新時(shí)間:2022-09-26 16:02:42瀏覽次數(shù):799次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線日立鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品描述品牌一六儀器型號(hào)XTU-50A類(lèi)別下照式儀器尺寸550mm*480mm*470mm儀器重量45KGXY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍50mm*50mmXY軸工作臺(tái)承重5KG測(cè)量元素范圍CI(17)-U(92)不同層相同元素檢查能力選配涂鍍層分析范圍Li(3)-U(92)分析軟件同時(shí)分析23個(gè)鍍層24種元素X射線裝置微聚焦射線管準(zhǔn)直器φ0
品牌 | 一六儀器 | 型號(hào) | XTU-50A |
類(lèi)別 | 下照式 | 儀器尺寸 | 550mm*480mm*470mm |
儀器重量 | 45KG | XY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍 | 50mm*50mm |
XY軸工作臺(tái)承重 | 5KG | 測(cè)量元素范圍 | CI(17)-U(92) |
不同層相同元素檢查能力 | 選配 | 涂鍍層分析范圍 | Li(3)-U(92) |
分析軟件 | 同時(shí)分析23個(gè)鍍層24種元素 | X射線裝置 | 微聚焦射線管 |
準(zhǔn)直器 | φ0.5mm、φ0.2mm、兩準(zhǔn)直器任選一種 | 測(cè)量距離 | 具有距離補(bǔ)償功能,可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異行物品,變焦距離可達(dá)0-30mm |
對(duì)焦方式 | 高敏感鏡頭,手動(dòng)對(duì)焦 | 樣品臺(tái)移動(dòng) | 高精密手動(dòng)XY滑軌 |
其他附件 | 電腦一套,噴墨打印機(jī),附件箱,12元素電鍍液測(cè)量杯(選配)片,標(biāo)準(zhǔn)片(選配) |
丞普諾儀器(蘇州)有限公司產(chǎn)品*可以與國(guó)外同類(lèi)產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計(jì)制造經(jīng)驗(yàn)。多年來(lái)與各大學(xué)、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系。
膜厚儀也叫X射線測(cè)厚儀,它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái),而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。
本鍍層測(cè)厚儀,具有結(jié)構(gòu)性能穩(wěn)定可靠,功能齊全的特點(diǎn)。使用本儀器可以保障產(chǎn)品質(zhì)量,防止原材料的浪費(fèi)。找到不同需求的電鍍工藝,是有關(guān)成品廠及電鍍廠的儀器。
基于強(qiáng)大的研發(fā)和應(yīng)用能力特別為電鍍行業(yè)制定了一套有效的測(cè)試解決方案。
鍍層膜厚檢測(cè):有效進(jìn)行鍍層厚度的產(chǎn)品質(zhì)量管控
電鍍液分析:檢測(cè)電鍍液成分及濃度,確保鍍層質(zhì)量
水質(zhì)在線監(jiān)測(cè):有效監(jiān)測(cè)電鍍所產(chǎn)生的工業(yè)廢水中的有害物質(zhì)含量,已達(dá)到排放標(biāo)準(zhǔn)
RoHS有害元素檢測(cè):為電鍍產(chǎn)品符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),嚴(yán)把質(zhì)量關(guān)
重金屬及槽液雜質(zhì)檢測(cè):有效檢測(cè)電鍍成品,以及由電鍍所產(chǎn)生的工業(yè)廢水、廢物中的重金屬含量
鍍層測(cè)厚儀軟件優(yōu)勢(shì):
鍍層測(cè)厚儀具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用模式,測(cè)試時(shí)元素觀察更直觀。
軟件具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無(wú)限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
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英國(guó)牛津Oxford CMI243鍍層測(cè)厚儀
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