SENTECH-光譜橢偏儀- (SENresearch 4.0)
SENresearch 4.0 面議污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司
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更新時間:2023-03-04 17:11:52瀏覽次數(shù):226次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線BX-G101系列針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度快速攝譜型光譜橢偏儀,波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 光譜橢偏儀基于高靈敏度光譜探測單元和光譜橢偏儀分析軟件,用于測量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)(如,厚度)和物理參數(shù)(如,折射率n、消光系數(shù)k,或介電函數(shù)ε1和ε2),也可用于測量塊狀材料的光學(xué)性質(zhì)。
產(chǎn)品用途:
BX-G101系列針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度快速攝譜型光譜橢偏儀,波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 光譜橢偏儀基于高靈敏度光譜探測單元和光譜橢偏儀分析軟件,用于測量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)(如,厚度)和物理參數(shù)(如,折射率n、消光系數(shù)k,或介電函數(shù)ε1和ε2),也可用于測量塊狀材料的光學(xué)性質(zhì)。
儀器特點(diǎn):
1. 旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器測量技術(shù):橢偏角△的測量范圍是0-360o,無測量死角問題,也可消除粗糙表面引起的消偏振效應(yīng)對結(jié)果的影響
2. 秒級的全光譜測量速度:全光譜測量典型時間5-10秒
3. 原子層量級的檢測靈敏度:可以測量單原子層
4. 視頻式樣品對準(zhǔn):準(zhǔn)確完成樣品對準(zhǔn),并方便觀察,減小人為誤差
5. 多入射角度調(diào)節(jié):多入射角度結(jié)構(gòu)設(shè)計,增強(qiáng)了儀器測量的靈活性,尤其適合于超薄樣品或復(fù)雜的樣品的測量場合
6. 反射率/透射率測量:對樣品進(jìn)行光譜透射率和反射率測量
7. 一鍵式儀器操作:對于常見操作,只需鼠標(biāo)點(diǎn)擊一個按鈕即可完成復(fù)雜的測量、建模、擬合和分析過程,豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的操作需求
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