| 徠卡多功能離子減薄儀-Leica EM RES102概述 | ||
| Leica EM RES102 通過(guò)離子槍激發(fā)獲得離子束，以一定入射角度對(duì)樣品進(jìn)行轟擊，以去除樣品表面原子，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的離子束加工。Leica EM RES102主要功能為：對(duì)無(wú)機(jī)薄片樣品進(jìn)行離子減薄，使得薄片樣品可被透射電子穿過(guò)，從而適宜TEM透射電子顯微鏡觀察；對(duì)無(wú)機(jī)塊狀樣品進(jìn)行離子束拋光、離子束刻蝕，樣品表面離子清洗及斜坡切割，便于SEM掃描電子顯微鏡觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息。 | ||
| 徠卡多功能離子減薄儀-Leica EM RES102性能 | ||
| • 優(yōu)異性價(jià)比：一臺(tái)設(shè)備即可為T(mén)EM、SEM、LM電鏡檢測(cè)提供*試樣， 多種應(yīng)用功能集于一體，高效并節(jié)約成本 • 安全：所有機(jī)械控制、樣品移動(dòng)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化，可獲得重復(fù)性制樣結(jié)果 • 分段冷卻：對(duì)溫度敏感樣品得到充分保護(hù)，在優(yōu)化條件下進(jìn)行離子研磨， 保持樣品的原生態(tài) • 操作簡(jiǎn)便：內(nèi)置應(yīng)用參數(shù)庫(kù)，幫助文件，無(wú)論是初學(xué)者還是后期維護(hù)都 十分簡(jiǎn)單 | ||
| 技術(shù)參數(shù) | ||
| 具有2把離子槍?zhuān)x子束能量為0.8keV-10keV，相對(duì)位置，可分別±45°傾斜，樣品臺(tái)傾斜角度-120° 至 210°，離子束加工角度0°至90°，樣品平面擺動(dòng)角度＜360°，垂直擺動(dòng)距離±5mm。實(shí)際操作參數(shù) 根據(jù)具體應(yīng)用需要選擇（系統(tǒng)備有參考參數(shù)，也可自行設(shè)置參數(shù)并存儲(chǔ)） | ||
| 可選配樣品臺(tái)：TEM樣品臺(tái)（Φ3.0mm或Φ2.3mm），F(xiàn)IB樣品清洗臺(tái)，SEM樣品臺(tái)，斜坡切割樣品臺(tái)（對(duì)樣品35°或90°斜坡切割）等 | ||
| SEM樣品臺(tái)可容納zui大樣品尺寸：直徑25mm，高度12mm | ||
| 全無(wú)油真空系統(tǒng)，樣品室?guī)в蓄A(yù)抽室，保證樣品交換時(shí)間＜1分鐘 | ||
| 全電腦控制，觸摸屏操作界面，內(nèi)置視頻觀察系統(tǒng)，可實(shí)時(shí)觀察樣品處理過(guò)程 | ||
暫無(wú)信息 |
環(huán)保在線