溫度快速溫變試驗箱是一臺可以快速做高溫、低溫、高低溫循環(huán)交變試驗的箱子，它快的速度可以每分種升降溫20℃，當(dāng)然也可以根據(jù)顧客的要求選擇非標(biāo)設(shè)計定制出符合國標(biāo)參數(shù)的箱子。非標(biāo)定制升降溫速度可選擇線性或者非線性2℃／min、3℃／min、4℃／min、5℃／min、6℃／min、7℃／min、8℃／min、9℃／min、10℃／min、15℃／min至20℃／min范圍內(nèi)可選。

溫度快速溫變試驗箱適用于通訊、光電、航空航天等產(chǎn)品試驗用，還適合于信息電子儀器儀表、電工、安防產(chǎn)品、材料、電子產(chǎn)品、各種電子電器元氣件在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗其的各項性能指標(biāo)是否有變化或者影響。常做的溫變率有:15℃/min、10℃/min、5℃/min、20℃/min、25℃/min （可選擇線性或非線性變化）。

符合標(biāo)準：

GJB/150.3A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。

GJB/150.4A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗。

GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則。

GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗。

GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

GJB/150.9A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗。

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化。

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱技術(shù)條件。