升降溫速率可以調節(jié)試驗箱適用于航空航天產品，通訊產品，信息電子儀器儀表，工業(yè)材料，零配件，電子產品，各種電子元器件等物品做應力篩選試驗。

升降溫速率可以調節(jié)試驗箱符合標準：

GJB/150.3A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。

GJB/150.4A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗。

GB/T 5170.1-2008  電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。

GB/T 2423.3-2006  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗。

GB/T 2423.4-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

GJB/150.9A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗。

GB/T 2423.1-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

GB/T 2423.2-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。

GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化。

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱技術條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱技術條件。