電子產(chǎn)品快速溫度變化試驗(yàn)箱將高溫和低溫以設(shè)定的時間頻率進(jìn)行切換，讓被檢測樣品能夠在溫度快速變化的情況下運(yùn)行，檢測樣品在快速溫變后發(fā)生的變化。而且有些產(chǎn)品在模擬的溫度變化的環(huán)境下,一些潛存在產(chǎn)品深處的問題都會慢慢暴露出來，就比如材料問題、制作工藝等。

電子產(chǎn)品快速溫度變化試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 2423.1-2008低溫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.1-2008高溫試驗(yàn)方法

GJB150.3A-2009高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009低溫試驗(yàn)

GJN1032-1990環(huán)境應(yīng)力篩選方法

快速老化箱溫度范圍可選擇：-70℃~+150℃，-60℃~+150℃，-40℃~+150℃，-20℃~+150℃，0℃~+150℃；可選擇適合自己產(chǎn)品常用的溫度范圍。升降溫速率也可根據(jù)客戶的要求定制。

濕度范圍：20%~98%；RH相對溫濕度可調(diào)范圍請參考溫濕度范圍圖，業(yè)務(wù)員做的報價方案上有詳細(xì)參考。

升降溫速率：1℃~15℃/min的中間任意一個指標(biāo)都可以根據(jù)客戶要求的定制，性線非線性可定。

溫度波動度：±0.5℃滿足標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)等。

溫度偏差：±2℃滿足 標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)等。

快速老化箱是用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，適用于科研、學(xué)校、工廠、等單位用于電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承等各種材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。如需要購買與了解隨時歡迎惠顧與咨詢。