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廣州鴻熙電子科技有限公司

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iEDX-150TX射線熒光光譜鍍層厚度測(cè)試儀

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

更新時(shí)間:2022-07-12 14:11:11瀏覽次數(shù):236次

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X射線熒光光譜鍍層厚度測(cè)試儀,1.鍍層檢測(cè),多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層,精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。2.儀器尺寸:618*525*490mm,樣品臺(tái)移動(dòng)距離:160*150*90mm。3.激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。4.可檢測(cè)固體、粉末狀態(tài)材料。5.運(yùn)行及維護(hù)成本低、無(wú)易損易耗品,對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低。6.可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無(wú)標(biāo)樣定性,半定量分析。

產(chǎn)品概述



產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備

產(chǎn)品名稱:鍍層厚度測(cè)試儀

型    號(hào):iEDX-150T

生 產(chǎn) 商:韓國(guó)ISP公司

亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司



產(chǎn)品圖片:

X射線熒光光譜鍍層厚度測(cè)試儀iEDX-150T

工作條件

工作溫度:15-30

電源:AC: 110/220VAC 50-60Hz

相對(duì)濕度:<70%,無(wú)結(jié)露

功率:150W + 550W



產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及特征

(一)產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

  1. 鍍層檢測(cè),多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層,精度及穩(wěn)定性可控制+/-5%內(nèi)。

  2. 儀器尺寸:618*525*490mm,樣品臺(tái)移動(dòng)距離:160*150*90mm。

  3. 激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。

  4. 可檢測(cè)固體、粉末狀態(tài)材料。

  5. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無(wú)易損易耗品,對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低。

  6. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無(wú)標(biāo)樣定性,半定量分析。

  7. 操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、X射線熒光光譜鍍層厚度測(cè)試儀無(wú)損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測(cè)結(jié)果。

  8. 可針對(duì)客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

  9. 軟件*升級(jí)。

  10. 無(wú)損檢測(cè),一次性購(gòu)買標(biāo)樣可使用。

  11. 使用安心無(wú)憂,售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以內(nèi),提供保姆式服務(wù)。

  12. 可以遠(yuǎn)程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。

  13. 可進(jìn)行RoHS檢測(cè)(選配功能),測(cè)試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測(cè)試無(wú)鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對(duì)成分進(jìn)行分析。

(二)產(chǎn)品特征

  1. 高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)

  2. 計(jì)算機(jī) / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)。

  1. Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)(FP)軟件,通過(guò)簡(jiǎn)單的三步進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣標(biāo)定,使用基礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法,對(duì)樣品進(jìn)行的鍍層厚度分析,可以增加RoHS檢測(cè)功能。

  2. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析

勵(lì)磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進(jìn)行層厚度測(cè)量

相對(duì)(比)模式  無(wú)焦點(diǎn)測(cè)量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時(shí)測(cè)量

鍍層應(yīng)用 [Cu/ABS等]

鍍層應(yīng)用 [Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

鍍層應(yīng)用 [Au/Ni-P/Cu/Brass等]

鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb]

合金層應(yīng) [如:Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

  1. Smart-Ray. 快速、簡(jiǎn)單的定性分析的軟件模塊。可同時(shí)分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給。

Smart-Ray. 金屬行業(yè)X射線熒光光譜鍍層厚度測(cè)試儀定量分析軟件。可一次性分析25種元素。小二乘法計(jì)算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計(jì)算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)+ /-0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達(dá)+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。

  1. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)

  2. 完整的統(tǒng)計(jì)數(shù)、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù),趨勢(shì)線,Cp 和 Cpk 因素等

  3. 自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),X射線熒光光譜鍍層厚度測(cè)試儀用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動(dòng)樣品測(cè)量。大測(cè)量點(diǎn)數(shù)量 = 9999 每個(gè)階段文件。每個(gè)階段的文件多 25 個(gè)不同應(yīng)用程序。特殊工具"線掃描"和"格柵"。每個(gè)階段文件包含*統(tǒng)計(jì)軟件包。包括自動(dòng)對(duì)焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能


產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說(shuō)明

u 測(cè)量原理:能量色散X射線分析

u 樣品類型:固體/粉末

u X射線光管:50KV,1mA

u過(guò)濾器:5過(guò)濾器自動(dòng)轉(zhuǎn)換

u檢測(cè)系統(tǒng):SDD探測(cè)器(或Si-Pin

u能量分辨率:125±5eVSi-Pin:159±5eV

u檢測(cè)元素范圍:Al (13) ~ U(92)

u準(zhǔn)直器孔徑0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)

u應(yīng)用程序語(yǔ)言:韓/英/中

u分析方法:FP/校準(zhǔn)曲線,吸收,熒光

u儀器尺寸:618*525*490mm

u樣品臺(tái)移動(dòng)距離自動(dòng)臺(tái))160*150*90mm

u樣品臺(tái)尺寸:250*225mm



  1. X射線管:高穩(wěn)定性X光光管,使用壽命(工作時(shí)間>18,000小時(shí))

微焦點(diǎn)X射線管、Mo ()

鈹窗口, 陽(yáng)極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷,輻射安全電子管屏蔽。

50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。

  1. 探測(cè)器:SDD 探測(cè)器(可選Si-Pin

能量分辨率:125±5eVSi-Pin:159±5eV

  1. 濾光片/可選

初級(jí)濾光片:Al濾光片,自動(dòng)切換

7個(gè)準(zhǔn)直器:客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

  1. 平臺(tái):軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動(dòng)X-Y軸移動(dòng)大樣品平臺(tái)。
    激光定位、簡(jiǎn)易荷載大負(fù)載量為5公斤
    軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動(dòng)測(cè)

  2. 樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡(jiǎn)易荷載、激光定位及拍照功能

6. 分析譜線:

- 2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)

- 基點(diǎn)改正(基線本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測(cè)量讀數(shù)自動(dòng)顯示

7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)

- 觀察范圍:3mm x 3mm

- 放大倍數(shù):40X

- 照明方法:上照式

- 軟件控制取得高真圖像

8. 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)(贈(zèng)送)

  1. 含計(jì)算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤、鼠標(biāo)

  2. 含Win 7/Win 10系統(tǒng)。

  3. Multi-Ray鍍層分析軟件

注:設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器,需另計(jì)。


iEDX-100TX射線膜厚測(cè)試儀

iEDX-100TX射線膜厚測(cè)試儀操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無(wú)損、高品質(zhì)

X射線膜厚測(cè)試儀

X射線膜厚測(cè)試儀對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器,測(cè)

iEDX-150WTX射線金厚測(cè)試儀

iEDX-150WTX射線金厚測(cè)試儀操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無(wú)損、高品

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