粒度儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據(jù)測(cè)試原理的不同分為超聲波粒度儀、沉降式粒度儀、 沉降天平、 激光粒度儀、光學(xué)顆粒計(jì)數(shù)器、電阻式顆粒計(jì)數(shù)器、顆粒圖像分析儀等。

激光粒度儀

激光粒度儀是專(zhuān)指通過(guò)顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來(lái)分析顆粒大小的儀器。

根據(jù)能譜穩(wěn)定與否分為靜態(tài)光散射粒度儀和動(dòng)態(tài)光散射激光粒度儀。

靜態(tài)激光：能譜是穩(wěn)定的空間分布。主要適用于微米級(jí)顆粒的測(cè)試，經(jīng)過(guò)改進(jìn)也可將測(cè)量下限擴(kuò)展到幾十納米。

動(dòng)態(tài)激光：根據(jù)顆粒布朗運(yùn)動(dòng)的快慢，通過(guò)檢測(cè)某一個(gè)或二個(gè)散射角的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)分析納米顆粒大小，能譜是隨時(shí)間高速變化。動(dòng)態(tài)光散射原理的粒度儀僅適用于納米級(jí)顆粒的測(cè)試。

    圖像粒度儀

圖像粒度儀擁有靜態(tài)、動(dòng)態(tài)兩種測(cè)試方法。

靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統(tǒng)，配合高清晰攝像機(jī)，將顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上，配合相關(guān)的計(jì)算機(jī)軟件可進(jìn)行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計(jì)算，并可以將測(cè)試結(jié)果輸出為報(bào)告。

動(dòng)態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了全新循環(huán)分散系統(tǒng)和軟件數(shù)據(jù)處理模塊，解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷。

    超聲粒度儀

許多的科學(xué)家把聲學(xué)應(yīng)用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德?tīng)?，雷諾，德拜......通過(guò)聲學(xué)和電聲學(xué)手段會(huì)提供關(guān)于顆粒表征的三個(gè)重要領(lǐng)域的信息: 粒徑分布，流變特性和Zeta電位。