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熱傳導(dǎo)系數(shù)儀導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀
1.HotDisk是材料熱傳導(dǎo)性能測(cè)試的高性能儀器2.可同時(shí)檢測(cè)熱導(dǎo)系數(shù)(ThermalConductivity)、熱擴(kuò)散(ThermalDiffusivity...
型號(hào)： TPS 3500 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/11/1 9:14:05 對(duì)比
氣相色譜飛行時(shí)間質(zhì)譜儀液相質(zhì)譜聯(lián)用儀
超高速分析、超高數(shù)據(jù)采集速度：50張譜圖/秒
型號(hào)： AccuTOF&t... 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/10/8 9:00:34 對(duì)比
質(zhì)譜儀直測(cè)試分析配件液相質(zhì)譜聯(lián)用儀
一般質(zhì)譜離子化分別有「大氣下離子化」及「真空下離子化」，質(zhì)譜儀的前處理通常較為麻煩與困難
型號(hào)： DART 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/10/7 9:54:14 對(duì)比
熱重質(zhì)譜儀液相質(zhì)譜聯(lián)用儀
TG(TG-DTA,orTGA)熱重分析儀可測(cè)試樣品在不同溫度下?lián)]發(fā)或斷鏈氣化的重量損失，所以可以定量在不同溫度下，得到裂解成分比例的訊息，但對(duì)于是那一種物質(zhì)的...
型號(hào)： Master-Qu... 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/10/7 9:54:14 對(duì)比
氣相層析四極柱質(zhì)譜儀液相質(zhì)譜聯(lián)用儀
日本電子JEOL在四極桿的技術(shù)發(fā)展上更上層樓，使得新一代的GC-MS具有更出色的性能
型號(hào)： Master-Qu... 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/10/6 9:47:50 對(duì)比
雷射輔助基質(zhì)離子螺旋飛行質(zhì)譜儀液相質(zhì)譜聯(lián)用儀
為增強(qiáng)分辨率讓飛行距離變的更長(zhǎng)SpiralTOF使用螺旋式設(shè)計(jì)，在較小的空間下可以達(dá)到最長(zhǎng)飛行距離，從而可以分析到更高分辨率，分子量準(zhǔn)確度也更高
型號(hào)： SpiralTOF... 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/10/6 9:47:50 對(duì)比
高解析氣相層析飛行時(shí)間質(zhì)譜儀 GC-TOF 液相質(zhì)譜聯(lián)用儀
日本電子JEOL推出JMS-T2000GCAccuTOFGC-Alpha是第六代GC-TOFMS，具有新一代的離子光學(xué)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)高效率離子傳輸（靈敏度）和超高...
型號(hào)： JMS-T2000... 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/10/5 9:41:31 對(duì)比
大氣游離高解析質(zhì)譜儀液相質(zhì)譜聯(lián)用儀
一般質(zhì)譜離子化分別有「大氣下離子化」及「真空下離子化」，質(zhì)譜儀的前處理通常較為麻煩與困難
型號(hào)： AccuTOF&t... 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/10/5 9:41:31 對(duì)比
EA1300 VX 食品專用XRF 微型拉曼光譜儀
EA1300 VX 食品專用XRF特點(diǎn):不須前處理?簡(jiǎn)單分析沒有必要前處理，只要把樣品容器中，在一個(gè)專用的樣品，沒有熟練的技術(shù)人員很容易可以分析，沒有人為誤差。
型號(hào)： EA1300 VX 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/10/2 9:22:07 對(duì)比

XRF
桌上型熒光分析儀 XRF 微型拉曼光譜儀
桌上型熒光分析儀 XRF采用高靈敏度硅半導(dǎo)體偵測(cè)，無須液態(tài)氮
型號(hào)： EA1000AII... 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/10/2 9:22:07 對(duì)比

熒光分析儀
熱傳導(dǎo)系數(shù)儀導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀
1.HotDisk是材料熱傳導(dǎo)性能測(cè)試的高性能儀器2.可同時(shí)檢測(cè)熱導(dǎo)系數(shù)(ThermalConductivity)、熱擴(kuò)散(ThermalDiffusivity...
型號(hào)： TPS 2200 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/10/1 9:13:37 對(duì)比
熱傳導(dǎo)系數(shù)儀導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀
HotDisk是材料熱傳導(dǎo)性能測(cè)試的高性能儀器可同時(shí)檢測(cè)熱導(dǎo)系數(shù)(ThermalConductivity)、熱擴(kuò)散(ThermalDiffusivity)、熱容...
型號(hào)： M1 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/10/1 9:13:37 對(duì)比
桌上型熒光分析儀 XRF 微型拉曼光譜儀
桌上型熒光分析儀 XRF設(shè)計(jì)能提高分析鎘和鉛等RoHS物質(zhì)的準(zhǔn)確度和速度。
型號(hào)： EA1400VX 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/9/30 15:09:20 對(duì)比

XRF
X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
基于X熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al到92U的固體或液...
型號(hào)： X-Strata9... 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/8/22 15:12:12 對(duì)比
X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
即放即測(cè)：無需人工對(duì)焦造成誤差，測(cè)量結(jié)果更可靠；測(cè)試速度快：3秒自動(dòng)對(duì)焦，10秒鐘完成50nm級(jí)極薄鍍層的測(cè)量；無標(biāo)樣測(cè)量：與以往的技術(shù)相比，薄膜FP軟件得到進(jìn)...
型號(hào)： FT110A 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/8/22 15:12:12 對(duì)比

厚度測(cè)量?jī)x
X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x
FT150伴隨光學(xué)系的升級(jí)
型號(hào)： FT150 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/8/22 15:12:12 對(duì)比

厚度測(cè)量?jī)x
熱機(jī)械分析儀
經(jīng)由TMA獲得的材料特性信息對(duì)于各式產(chǎn)品的設(shè)計(jì)及制程卻極為重要，舉凡電子芯片封裝、電路板、高分子材料、纖維染色到引擎的設(shè)計(jì)等，各種其尺寸會(huì)隨溫度而變化的產(chǎn)品，T...
型號(hào)： TMA/SS 71... 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/7/12 13:38:01 對(duì)比
高溫型熱機(jī)械分析儀
熱機(jī)械分析儀(ThermalMechanicalAnalyzer)為材料科學(xué)最基本的測(cè)量工具之一
型號(hào)： TMA7300 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/7/12 13:37:46 對(duì)比
熱重/熱示差同步分析儀
HITACHI推出一代NEXTASTA系列
型號(hào)： STA 200 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/7/12 13:37:46 對(duì)比
桌上型X射線熒光元素分析儀
采用Vortex高分辨率之硅半導(dǎo)體多陰極檢測(cè)器，為一般SEM/EDX專用之高階檢測(cè)器，不需要使用液態(tài)氮冷卻。
型號(hào)： EA1200VX 所在地：參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2021/8/24 15:33:22 對(duì)比

元素分析儀

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